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文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇抛光
  • 1篇氮化镓
  • 1篇电源
  • 1篇电源系统
  • 1篇兆声清洗
  • 1篇刷洗
  • 1篇抛光工艺
  • 1篇平坦化
  • 1篇系统控制
  • 1篇逻辑器件
  • 1篇晶片
  • 1篇晶圆
  • 1篇可编程逻辑
  • 1篇可编程逻辑器...
  • 1篇化学机械抛光
  • 1篇化学机械平坦...
  • 1篇机械抛光
  • 1篇光学零件
  • 1篇复杂可编程逻...
  • 1篇半导体

机构

  • 5篇中国电子科技...

作者

  • 5篇熊朋
  • 3篇杨师
  • 2篇史霄
  • 1篇陶利权
  • 1篇费玖海
  • 1篇肖雅静
  • 1篇蒲继祖
  • 1篇田洪涛
  • 1篇郭春华
  • 1篇王铮
  • 1篇井海石
  • 1篇陈威
  • 1篇张世崇

传媒

  • 5篇电子工业专用...

年份

  • 2篇2017
  • 2篇2016
  • 1篇2015
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
用于晶圆刷洗的同心卡接机构设计
2017年
在CMP后清洗工艺过程中,往往需要对机刷进行快速更换。针对以上需求,设计了一种用于晶圆刷洗的同心卡接机构,很好地解决了机刷更换过程同心度存在偏差及更换不便的问题,改善了晶圆表面清洗的效果。
陶利权熊朋蒲继祖李嘉浪费玖海
MPM-700光学零件抛光平台的研制与改进
2016年
论述了用于激光陀螺仪、旋光片抛光的MPM-700光学零件抛光平台的主要结构及特点。介绍了该设备在传动方式、台面选型优化、抛光头装载结构方面较原PG-710抛光设备的技术改进;并通过运用有限元软件对该抛光平台架进行受载情况仿真,消除了抛光过程中抛光盘变形对抛光效果的影响,进而在理论和实践两个方面确定了该设备已达到设计要求。
杨师李嘉浪张世崇熊朋
关键词:光学零件
CMP设备兆声清洗原理及应用被引量:4
2015年
从空化作用和声波流作用两方面对兆声清洗的物理原理进行深入分析,研究了兆声频率及功率对空化强度、边界层厚度、声波流速等关键因素的影响,从而阐明兆声波清洗的特点及其适用场合。同时以AMAT公司的设备为例,介绍了兆声波清洗在CMP后清洗中的实际应用案例。
史霄郭春华杨师熊朋
关键词:化学机械平坦化
基于CPLD的半导体设备电源系统控制技术研究被引量:1
2017年
研究基于CPLD的半导体设备电源系统控制技术,介绍了CPLD相关知识、电源系统控制原理、电源系统控制硬件软件设计及抗干扰技术,最后结合实际应用指出基于CPLD的电源控制技术具有广泛的应用前景。
井海石肖雅静田洪涛熊朋
关键词:复杂可编程逻辑器件半导体设备
氮化镓晶片的CMP技术现状与趋势被引量:6
2016年
综述了半导体材料氮化镓(Ga N)抛光技术的发展,介绍了Ga N晶片化学机械平坦化(Chemical Mechanical Planarization,CMP)技术的研究现状,分析了CMP的原理和工艺参数对抛光的影响,指出了CMP亟待解决的技术和理论问题,并对其发展方向进行了展望。
熊朋王铮陈威史霄杨师
关键词:化学机械抛光抛光工艺
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