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徐中仓

作品数:7 被引量:3H指数:1
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 6篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 5篇砷化镓
  • 3篇射频
  • 3篇射频开关
  • 3篇晶体管
  • 2篇单片
  • 2篇单片开关
  • 2篇砷化镓单片
  • 2篇手机
  • 2篇可靠性
  • 2篇功率晶体管
  • 2篇高可靠
  • 2篇高频
  • 2篇PHEMT
  • 1篇电子迁移率
  • 1篇移动通信
  • 1篇异质结
  • 1篇双刀双掷开关
  • 1篇通信
  • 1篇迁移率
  • 1篇微波特性

机构

  • 6篇南京电子器件...
  • 1篇南京大学

作者

  • 7篇徐中仓
  • 6篇蒋幼泉
  • 6篇李拂晓
  • 5篇杨乃彬
  • 4篇邵凯
  • 3篇钮利荣
  • 2篇陈效建
  • 2篇黄念宁
  • 2篇高建峰
  • 1篇林金庭
  • 1篇王玉林
  • 1篇陈继义
  • 1篇吴振海
  • 1篇吴仲华
  • 1篇陈新宇
  • 1篇高建峰
  • 1篇周剑明

传媒

  • 2篇固体电子学研...
  • 1篇Journa...
  • 1篇电子元器件应...
  • 1篇2001全国...
  • 1篇第六届全国分...
  • 1篇2001年全...

年份

  • 3篇2002
  • 3篇2001
  • 1篇1997
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
砷化镓高频PHEMT小功率晶体管
砷化镓PHEMT功率器件具有工作频率高,输出功率密度大,效率高,功率效益高等特点.本文研制的0.5um栅长GaAs PHEMT小功率晶体管,栅宽1mm,直流跨导250ms/mm,栅漏反向击穿电压大于13V,在20GHz下...
李拂晓蒋幼泉高建峰黄念宁徐中仓
关键词:砷化镓高电子迁移率功率晶体管微波特性
文献传递
一种高可靠的砷化镓单片DPDT射频开关
采用砷化镓离子注入技术研制出的DPDT(双刀双掷)单片射频开关,采用塑封技术,成功地通过了高温工作寿命,抗静电(ESD),高压蒸汽(PCT),温度循环,射频功率下的漏电等试验.寿命试验表明该塑封单片电路MTTF已达6.2...
李拂晓蒋幼泉徐中仓钮利荣邵凯杨乃彬
关键词:可靠性砷化镓单片开关
文献传递
用于手机砷化镓MMIC射频开关的研制被引量:2
2002年
报道一种用于手机的高功率、低插损砷化镓 MMIC射频开关。该产品在 870~ 970 MHz下 ,线性功率容量 >3 3 d Bm,插入损耗 (IL) <0 .6d B,隔离度 (Iso)≥ 1 7d B,反向三阶交调 (PT0 1 )≥ 70 d Bm,控制电压 :(0 ,-4) V。
蒋幼泉陈继义李拂晓高建峰徐中仓邵凯陈效建杨乃彬
关键词:手机双刀双掷开关
用于移动通信的砷化镓高频PHEMT小功率晶体管
2002年
砷化镓PHEMT功率器件具有工作频率高,输出功率密度大,效率高,功率增益高等特点。我们研制的0.5μm栅长GaAs PHEMT小功率晶体管,栅宽1mm,直流跨导250ms/mm,栅漏反向击穿电压大于13V,在20GHz下最大可用增益为8dB,X波段输出功率为0.8W/mm,可应用于22GHz以下的窄带功率放大器和18GHz以下的宽带功率放大器。
李拂晓蒋幼泉张少芳高建峰黄念宁徐中仓陈新宇杨乃彬林金庭
关键词:移动通信砷化镓高频晶体管功率器件
12 GHz GaAs/InGaAs异质结双栅功率场效应晶体管被引量:1
1997年
报道了GaAs/InGaAs异质结双杨功率场效应晶体管的设计考虑、器件结构和制作,讨论了所采用的一些关键工艺,给出了器件性能。在12GHz下,最大输出功率≥130mW,增益≥12dB,功率附加效率≥30%。
王玉林吴仲华徐中仓陈效建
关键词:异质结场效应晶体管
手机用砷化镓双刀双掷单片射频开关成品率分析
2002年
采用 Ga As75 mm 0 .7μm离子注入场效应晶体管 (MESFET)标准工艺技术研制出手机用 Ga As双刀双掷(DPDT)单片射频开关 (以下简称单片开关 ) .成品率分析表明 ,影响单片开关直流及射频参数成品率的主要因素包括 :材料几何参数、注入退火均匀性、栅光刻成品率、挖槽控制及圆片沾污等 .优化工艺条件可以使单片开关直流成品率稳定在 90 %左右 ,微波成品率稳定在 80 %左右 。
李拂晓蒋幼泉吴振海徐中仓钮利荣周剑明邵凯杨乃彬
关键词:手机成品率分析砷化镓
一种高可靠的砷化镓单片DPDT射频开关
采用砷化镓离子注入技术研制出的DPDT(双刀双掷)单片射频开关,采用塑封技术,成功地通过了高温工作寿命,抗静电(ESD),高压蒸汽(PCT),温度循环,射频功率下的漏电等试验。寿命试验表明该塑封单片电路MTTF已达6.2...
李拂晓蒋幼泉徐中仓钮利荣邵凯杨乃彬
关键词:可靠性砷化镓单片开关
文献传递
共1页<1>
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