曹耀龙
- 作品数:8 被引量:21H指数:3
- 供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域:电子电信电气工程更多>>
- 微波组件失效统计分析与质量控制被引量:4
- 2012年
- 微波组件产品广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素。通过对55个微波组件产品的失效案例进行统计分析,得出了微波组件失效的原因,其中主要原因是操作问题、工艺问题、调试问题、元器件问题和用户使用问题,分别对这5类问题进行了具体分析和说明。从设计、生产、采购、检验和使用等方面分析了影响微波组件质量的因素,提出了相应的质量控制方法和应注意的问题。为微波组件的质量控制提供了有价值的统计数据和分析结果。
- 曹耀龙
- 关键词:微波组件可靠性统计分析
- 测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备
- 本发明适用于微波频率源及测试测量技术领域,提供了一种测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备,该方法包括:获取被测信号;根据被测信号的频率和信号稳定精度需求,确定计时时间段;分别测量每个计时时间段对应的实际频率,当测量...
- 王占利谢潇曹耀龙赵瑞华翟玉卫文松王朋姜兆国闫利哲董强孙佳林高哲霍现荣肖宁郝晓博马力
- 照明用功率LED的加速寿命试验被引量:4
- 2009年
- 阐述了照明用功率发光二极管(LED)的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验方法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1 W白光LED和CREE公司1 W蓝光LED的使用寿命进行了评估。
- 高兆丰曹耀龙高金环黄杰徐立生
- 关键词:功率发光二极管加速寿命试验激活能使用寿命
- 测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备
- 本发明适用于微波频率源及测试测量技术领域,提供了一种测量锁相频率源频率跳变时间的方法及终端设备,该方法包括:获取被测信号;根据被测信号的频率和信号稳定精度需求,确定计时时间段;分别测量每个计时时间段对应的实际频率,当测量...
- 王占利谢潇曹耀龙赵瑞华翟玉卫文松王朋姜兆国闫利哲董强孙佳林高哲霍现荣肖宁郝晓博马力
- 文献传递
- 电子组件温度循环试验研究被引量:12
- 2011年
- 为了使温度循环试验在有效提高电子组件的可靠性方面得以广泛应用,基于温度循环试验的机理,对电子组件温度循环试验的关键参数(温度范围、循环次数、保持时间、温变速率、风速)进行了探讨,给出了这些参数的工程经验选取值。在此基础上,借助热分析软件分析了温变速率、保持时间和风速三个参数对试验过程的影响并定性分析了三个参数间的关系。最后,提出了进行温度循环试验时应注意的问题,强调科学、正确地执行温度循环试验的重要性。
- 曹耀龙黄杰
- 关键词:电子组件温度循环风速
- 对晶体管阵列热阻和电老炼相关技术的探讨
- 2006年
- 为解决在未知最大额定功耗的情况下进行电老炼的问题,提供了晶体管阵列热阻和电老炼的相关技术与方法,指出了如何利用热阻去推算最大功耗以及如何验证推算的正确性,最后给出了晶体管阵列老炼时应注意的问题。
- 曹耀龙于学东徐立生
- 关键词:晶体管阵列热阻
- 贴片电阻典型失效案例分析被引量:1
- 2022年
- 贴片电阻具有重量轻、体积小、组装密度高、易于自动化装配等优点,在电子产品中应用越来越多。本文简单介绍了贴片电阻的结构和主要失效模式,针对典型的三例贴片电阻失效案例,展开失效原因和机理分析,对于相关工作人员具有一定的参考价值。
- 曹耀龙高东阳裴选席善斌
- 关键词:贴片电阻
- 照明用功率LED的加速寿命试验
- 本文概述了照明功率LED的发展历程,阐述了LED的退化规律,提出了一种实用的加速寿命试验万法来评估功率LED的长期使用寿命,并使用该方法分别对LUMILEDS公司1W白光LED和CREE公司1W蓝光LED的使用寿命进行评...
- 高兆丰曹耀龙高金环黄杰徐立生
- 关键词:功率LED加速寿命试验激活能使用寿命
- 文献传递