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曾泰

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:空军雷达学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 2篇理学
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇电子器件
  • 2篇微电子
  • 2篇微电子器件
  • 2篇ESD
  • 1篇电压
  • 1篇输出电压
  • 1篇观测器
  • 1篇变换电路
  • 1篇DC/DC变...
  • 1篇DC/DC变...
  • 1篇DC/DC

机构

  • 3篇空军雷达学院
  • 2篇第二炮兵工程...
  • 2篇太原卫星发射...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中电集团

作者

  • 3篇曾泰
  • 2篇刘红兵
  • 2篇祁树锋
  • 2篇杨洁
  • 2篇张晓倩
  • 1篇亓迎川

传媒

  • 1篇河北师范大学...
  • 1篇青岛科技大学...
  • 1篇第15届全国...

年份

  • 2篇2011
  • 1篇2003
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
静电放电电磁脉冲对微电子器件的双重作用被引量:1
2011年
研究了低电压的静电放电(ESD)对微电子器件造成的潜在性失效,采用人体模型(HBM)对微波低噪声晶体管2SC3356施加不同电压的ESD应力.结果表明:高电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤主要是不可恢复的损伤,而低电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤是可恢复的损伤;ESD的注入对器件有双重作用:一方面ESD在器件中可引入潜在性损伤,另一方面ESD对器件有加固作用,并且注入ESD电压越高,这些作用越明显.
祁树锋张晓倩曾泰刘红兵杨洁
关键词:ESD微电子器件
2SC3356晶体管ESD潜在性失效判别的参数研究
2011年
针对2SC3356晶体管进行了ESD潜在性失效判别的参数研究,研究的参数包括结电容和噪声系数、结反向击穿电压和结反向漏电流,以及高温反偏的方法来检验器件是否受到潜在性损伤。提出了检验双极型硅器件受到ESD潜在性损伤的最有效方法,即精确测试器件的直流参数,特别是直流放大倍数hFE及反向漏电流ICEO,是检验双极型硅器件是否受到ESD潜在性损伤的最有效方法。
祁树锋曾泰张晓倩刘红兵杨洁
关键词:ESD微电子器件
基于状态观测器实现DC/DC变换电路的电压估计
在DC/DC变换电路中,需要用传感器检测变换电路输出电压和输出负载电压值.本文运用状态观测器理论设计出的一种能够估计变换电路输出电压和输出负载电压的二维观测器,并对结果进行了仿真,证明了其优越性.
曾泰亓迎川
关键词:DC/DC变换电路输出电压观测器
文献传递
共1页<1>
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