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柳拓鹏

作品数：1 被引量：1H指数：1
供职机构：华东电子工程研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇可靠性
  • 1篇雷达
  • 1篇雷达T/R组...
  • 1篇T/R
  • 1篇T/R组件
  • 1篇GAN器件

机构

  • 1篇华东电子工程...

作者

  • 1篇吕春明
  • 1篇吴贻伟
  • 1篇窦丙飞
  • 1篇严继进
  • 1篇柳拓鹏

传媒

  • 1篇电子制作

年份

  • 1篇2017
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
雷达T/R组件中GaN器件可靠性影响被引量：1
2017年
相控阵雷达的核心部件T/R组件性能不断提高,GaN半导体器件的应用使得组件输出功率和效率大幅提高,能够在高温下工作。但是GaN材料目前应用时间较短,可靠性方面还缺乏验证。本文主要介绍了组件中GaN功率器件的失效机理,对影响GaN功率器件可靠性的不同因素进行了分析。
窦丙飞严继进吴贻伟吕春明柳拓鹏
关键词：T/R组件可靠性
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共1页<1>
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