您的位置： 专家智库 > >

吴贻伟

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：华东电子工程研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇T/R
  • 2篇T/R组件
  • 2篇GAN器件
  • 1篇微波技术
  • 1篇可靠性
  • 1篇雷达
  • 1篇雷达T/R组...
  • 1篇高性能

机构

  • 2篇华东电子工程...

作者

  • 2篇吕春明
  • 2篇吴贻伟
  • 2篇窦丙飞
  • 2篇严继进
  • 1篇柳拓鹏

传媒

  • 1篇电子制作
  • 1篇电子技术与软...

年份

  • 2篇2017
共 2 条 记 录，以下是 1-2
全选 清除 导出
排序方式：
雷达T/R组件中GaN器件可靠性影响被引量：1
2017年
相控阵雷达的核心部件T/R组件性能不断提高,GaN半导体器件的应用使得组件输出功率和效率大幅提高,能够在高温下工作。但是GaN材料目前应用时间较短,可靠性方面还缺乏验证。本文主要介绍了组件中GaN功率器件的失效机理,对影响GaN功率器件可靠性的不同因素进行了分析。
窦丙飞严继进吴贻伟吕春明柳拓鹏
关键词：T/R组件可靠性
基于GaN功率器件的高性能T/R组件
2017年
T/R组件是雷达系统的核心部件,其性能决定了雷达的性能。本文介绍了雷达T/R组件的技术发展,重点介绍了一种基于GaN功率器件的雷达T/R组件设计,组件具有高的输出功率和效率。同时,经过试验验证,组件的温度稳定性也很好。
窦丙飞严继进吴贻伟吕春明
关键词：微波技术GAN器件T/R组件
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0