何俊明
- 作品数：2 被引量：2H指数：1
- 供职机构：中芯国际集成电路制造有限公司更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 一种异常V_(ramp)I-V曲线分析及其应用探讨被引量：1
- 2009年
- 讨论分析了Vramp测试方法,说明了I-V曲线的特性。就一个异常案例中测得的I-V曲线展开了分析,说明了曲线异常背后的原因,揭示了Vramp测试结果和等离子所致损伤之间的关联。结合其它可靠性测试项目的结果,成功地进行了氧化层性能快速评估,丰富了Vramp测试的应用。
- 简维廷何俊明张荣哲赵永
- α粒子加速软失效率测试的稳定性研究被引量：1
- 2011年
- 半导体器件软错误的发生具有几率低、间隔时间长的特点。资源有限条件的下实现对器件软失效率的评估需要借助放射源加速的方法,即加速软失效率测试。作为改进设计和工艺以降低软失效率的前提,就测试方法稳定性进行了系统研究。通过对两种不同制程的静态随机存储器芯片(SRAM)进行α粒子加速软失效率测试,提出了确保α粒子加速测试稳定的方法。基于相同测试条件下多次测量结果变化和测试时间的关系,给出了合理的加速软失效测试的时间推荐值,保证了测试结果的有效性。
- 王娜何俊明刘云海丁育林丁佳妮
- 关键词：Α粒子软错误
