陈亚兰
- 作品数：6 被引量：39H指数：4
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- 混合集成电路PIND试验特征波形研究及控制方法被引量：4
- 2010年
- 介绍了混合集成电路PIND检测原理和试验不合格的原因及其控制办法;重点分析了具有固定波及满屏波特征的PIND失效来源;从试验方法、器件结构、工艺控制等三方面进行改进,取得了明显效果。
- 陈亚兰肖玲
- 关键词：混合集成电路
- 元器件使用说明书的质量保证作用被引量：1
- 2009年
- 从使用原因产生的质量问题入手,分析了使用质量问题与产品使用说明书的关联性;并以典型事例为牵引,剖析了产品使用说明书的相关问题及原因,揭示出元器件承制单位对保证产品使用可靠性应承担的职责;并提出确保产品使用说明书充分发挥功效的四大措施,以使各元器件承制单位充分重视使用说明书的编制与作用。
- 陈亚兰张世莉
- 电子装备可靠性预计方法概述被引量：9
- 2013年
- 对国际上常用的电子装备可靠性预计方法进行了分类,介绍了几种与多个工业领域相关的可靠性预计方法,对这些预计方法实现设定目标的能力进行了评估。各种可靠性预计方法的优缺点是在电子装备的研发过程中组合(同时或按一定的顺序依次)使用各种可靠性预计方法的依据。理解并掌握上述原则和方法,能够极大地提升我国电子装备领域的可靠性预计效率和准确度。
- 陈亚兰罗俊李晓红
- 关键词：电子装备
- SPC在多品种小批量生产线的应用研究被引量：8
- 2007年
- 统计过程控制(SPC)是一种有效的质量管理工具,但由于半导体制造工艺过程的复杂性,常规的SPC模型已经不能对工艺过程状态进行有效的监控。着重论述了SPC在多品种、小批量半导体生产线上的实际应用;根据工艺特点,选取正确的SPC模型,通过采集数据、绘制控制图和数据分析,对图中异常点采用5M1E进行分析,既可及时发现工艺异常并进行纠正,又可排除非工艺原因造成的异常。该方法对提高工艺稳定性和产品质量有着非常重要的意义。
- 徐岚刘嵘侃陈亚兰贾新章
- 关键词：统计过程控制控制图
- 利用分步试验设计表征/优化工艺空间均匀性
- 2009年
- 半导体制造工艺成品率对空间差异越来越敏感,需要表征与优化工艺空间均匀性。利用两步试验设计方法,针对六输入变量的热氧化工艺,仅需31次试验,便建立了表征工艺目标和空间均匀性响应曲面模型。利用该模型优化工艺,得到了满足其他工艺指标下工艺空间均匀性最优的工艺设置。片间非均匀性从1.44%减小到0.77%,片内非均匀性从0.2%减小到0.12%。
- 游海龙贾新章徐岚陈亚兰
- 关键词：半导体工艺
- 片式多层陶瓷电容失效模式研究被引量：17
- 2013年
- 介绍了片式陶瓷电容的基本结构和材料特性及其常见的短路、开路和参数漂移失效模式;分析了失效的主要原因。结合工程实践,从器件选型、用前筛选、版图及结构设计和装配工艺选择等方面,给出了提高多层陶瓷电容使用可靠性的建议。
- 刘锐陈亚兰唐万军姚世锋
- 关键词：陶瓷电容失效模式
