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凌云

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院上海微系统与信息技术研究所更多>>
发文基金:国家重点基础研究发展计划国家高技术研究发展计划上海市科学技术委员会资助项目更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇相变存储
  • 2篇相变存储器
  • 2篇存储器
  • 1篇数值模拟
  • 1篇TCAD
  • 1篇值模拟

机构

  • 2篇同济大学
  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇贾晓玲
  • 2篇宋志棠
  • 2篇罗胜钦
  • 2篇李宜瑾
  • 2篇凌云
  • 1篇龚岳峰

传媒

  • 1篇电子器件
  • 1篇功能材料与器...

年份

  • 2篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
相变存储器中选通二极管的模型与优化
2010年
设计了0.13um标准CMOS工艺下相变存储器(PCM)中选通二极管的二维工艺模型,利用数值模拟方法进行仿真,对模型中关键参数的优化,得到了一个性能优化的P+/N-/N+结构的选通二极管,此选通二极管可在1.47V电压下达到1 mA的RESET电流,并且反向击穿电压可以达到11V。文章最后还讨论了工艺尺寸从0.13um到22nm等比例缩小下选通二极管的性能,仿真结果表明这些选通二极管均能在较低电压下提供满足RESET操作的电流。
李宜瑾凌云宋志棠贾晓玲罗胜钦
关键词:相变存储器数值模拟
相变存储器中驱动二极管之间串扰电流的分析与减小方法
2010年
由于二极管在单元尺寸上的优势,被认为是高密度相变存储器中驱动管的不二之选。如果制备二极管的工艺参数不恰当,则大的漏电流会影响PCRAM存储数据的准确性和长久的保持力。首先简要介绍了具有自主知识产权的相变存储器中驱动二极管阵列的制备方法,然后从载流子分布以及半导体器件角度,分析了驱动二极管之间串扰电流的产生原因,最后,依据工艺流程介绍了一种简单的方法来减小驱动二极管之间的串扰电流。依据SM IC的工艺进行TCAD仿真,结果表明此种方法能够在增大驱动电流的同时大大减小串扰电流。
李宜瑾凌云宋志棠龚岳峰罗胜钦贾晓玲
关键词:相变存储器TCAD
共1页<1>
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