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柏正香

作品数:3 被引量:9H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇电路
  • 2篇集成电路
  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇单片机控制
  • 1篇电路测试
  • 1篇异常数据
  • 1篇数据处理
  • 1篇自动测试系统
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇计算机
  • 1篇IC测试
  • 1篇IEEE-4...
  • 1篇测试系统

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇柏正香
  • 1篇欧昌银
  • 1篇吴小燕

传媒

  • 3篇微电子学

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2006
  • 1篇2002
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
集成电路测试数据的处理被引量:8
2010年
简述了集成电路测试数据的一些处理方法,包括临界数据的处理、异常数据的判定和剔除、测试结果有效位数的确定等;介绍了在进行集成电路性能参数测试时需要考虑的几个关键因素;对测量误差和减小测量误差的方法进行分析,使测试人员可对原始数据进行比较合理的处理;使测试值与被测集成电路的性能真值更加接近,避免对电路合格与否做出误判,从而使检验工作更加准确无误。
柏正香
关键词:集成电路测试异常数据数据处理
多探针自动测试台的技术改造被引量:1
2006年
介绍了将测试75 mm圆片的多探针自动测试台改造为测试100 mm圆片的多探针测试台。在原设备的基础上,重新设计加工X轴和Y轴的丝杆和导轨及承片台,控制由TP801单板机改为80C32单片机,数码管显示改为彩色液晶屏显示。改造后的探针测试台只需一次对片就能测完100 mm圆片,且控制稳定,功能更加完善,使用更为方便。
吴小燕柏正香欧昌银
关键词:单片机控制
SW233 PIN驱动器自动测试系统的研制
2002年
介绍了一种集成电路自动测试系统 ,该系统采用计算机并口作通信接口 ,用 VB6编程 ,实现了对外围测试电路的控制 ,用 IEEE- 488接口卡控制测试仪器 ,可对 SW2 33电路的 36个参数进行自动测试 ,并将测试结果自动保存在数据库中。该测试系统具有自动化程度高、操作方便。
柏正香
关键词:IEEE-488接口IC测试自动测试系统集成电路计算机
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