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张劲松

作品数:2 被引量:10H指数:1
供职机构:中国科学院等离子体物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术核科学技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学
  • 1篇核科学技术
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇等离子体
  • 1篇氧化硅薄膜
  • 1篇外差
  • 1篇外差式
  • 1篇聚变
  • 1篇聚变等离子体
  • 1篇硅薄膜
  • 1篇毫米波
  • 1篇二氧化硅薄膜
  • 1篇SIO2薄膜
  • 1篇ECR-PE...
  • 1篇HT-6M
  • 1篇衬底
  • 1篇成膜特性

机构

  • 2篇中国科学院等...

作者

  • 2篇张劲松
  • 1篇刘卫
  • 1篇罗家融
  • 1篇任兆杏
  • 1篇隋毅峰
  • 1篇范叔平
  • 1篇梁荣庆

传媒

  • 1篇红外与毫米波...
  • 1篇核聚变与等离...

年份

  • 1篇2001
  • 1篇2000
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
HT-6M外差式毫米波反射仪的研制被引量:1
2000年
报道了用于测量核聚变等离子体密度的毫米波反射仪 ,实验表明其空间分辨能力 :横向绝对分辨率 ΔRp=0 .7cm ,相对分辨率δRp=1.0 8% ,纵向绝对分辨率ΔLt=0 .832 cm,相对分辨率δLt=0 .943% ,时间分辨率~ 10μs,测量灵敏度为 Δγc=0 .79cm,相对测量灵敏度 δγc=1.2 2 % ,能满足实验要求 .
张劲松范叔平罗家融曹永军
关键词:毫米波聚变等离子体
ECR-PECVD制备SiO_2薄膜中衬底射频偏压的作用被引量:9
2001年
采用微波电子回旋共振等离子体增强化学气相沉积 (ECR PECVD)技术在单晶衬底上制备了SiO2 薄膜 ,研究了射频偏压对薄膜特性的影响。通过X射线光电子能谱 (XPS)、傅里叶变换红外线光谱 (FTIR)、原子力显微镜 (AFM)和扫描隧道显微镜 (STM)三维形貌图测量等手段 ,对成膜特性进行了分析。实验结果表明 ,通过改变射频偏压的参数来控制离子轰击能量 ,对ECR PECVD成膜的内应力、溅射现象。
张劲松任兆杏梁荣庆隋毅峰刘卫
关键词:SIO2薄膜ECR-PECVD二氧化硅薄膜成膜特性
共1页<1>
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