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靳立运

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:湖南大学信息科学与工程学院(软件学院)更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇电路
  • 3篇自测试
  • 3篇内建自测试
  • 2篇集成电路
  • 1篇电路测试
  • 1篇电子产品
  • 1篇扫描测试
  • 1篇时序电路
  • 1篇搜索
  • 1篇子产
  • 1篇向量
  • 1篇路径搜索
  • 1篇可测性
  • 1篇可测性设计
  • 1篇集成电路测试
  • 1篇测试集
  • 1篇测试向量
  • 1篇全扫描测试

机构

  • 3篇湖南大学

作者

  • 3篇靳立运
  • 2篇王伟征
  • 2篇邝继顺
  • 1篇尤志强

传媒

  • 1篇计算机研究与...
  • 1篇计算机工程

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
  • 1篇2010
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
同步全扫描时序电路的TVAC测试方法
2011年
自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。
靳立运邝继顺王伟征
关键词:内建自测试全扫描测试
减少自反馈测试硬件代价的两种方法被引量:1
2012年
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.
邝继顺靳立运王伟征尤志强
关键词:集成电路测试测试向量内建自测试路径搜索
面向给定测试集的自反馈测试方法研究
为保证电子产品的质量,对集成电路进行测试必不可少。随着集成电路复杂程度的不断提高和特征尺寸的日益减小,特别是进入深亚微米以及超高集成度阶段以来,系统芯片的功能越来越强大,这使得集成电路的测试越来越困难。目前,公认的解决该...
靳立运
关键词:电子产品集成电路内建自测试可测性设计
文献传递
共1页<1>
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