邝继顺
- 作品数：112 被引量：219H指数：8
- 供职机构：湖南大学更多>>
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- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信电气工程文化科学更多>>
- 集成电路全速电流测试方法
- 本发明涉及集成电路测试方法，其步骤包括：第一步，确定测试频率，第二步确定测试波形模式，第三步，确定可测试性测度及其阈值，第四步，测试波形生成，第五步，运行测试。本发明也可以检测一些用逻辑测试方法不可检测的故障，即所谓的冗...
- 闵应骅邝继顺牛小燕
- 文献传递
- Hook技术在监控PSpice中的应用研究被引量：2
- 2006年
- 介绍了仿真工具PSpice的基本概念和Hook技术的基本原理,并分析了在进行模拟及混合信号电路测试的仿真试验时,如何利用Hook技术来监控PSpice的自动运行。
- 吴群飞张鑫朱江章邝继顺
- 关键词：HOOK仿真PSPICE
- 用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究
- 2007年
- 全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.
- 荀庆来邝继顺闵应骅
- 关键词：瞬态电流测试
- 考虑硬件预配置因素的动态软硬件划分方法
- 本发明提供了一种考虑硬件预配置因素的动态软硬件划分方法，其特征在于，在程序运行过程中，进行动态的软硬件划分，在可重构硬件资源上进行一个或多个函数的配置，对待划分函数维护一个待划分函数列表list(f<Sub>1</Sub...
- 李仁发陈宇徐成吴强刘彦朱海袁虎钟俊刘滔邝继顺李蕊李肯立罗娟赵欢杨科华任小西杨书凡彭日光李春江黄瑜臣张维李浪
- 文献传递
- 基于测试片段间转移的低功耗BIST实现被引量：2
- 2007年
- 随机测试向量产生时,一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构,该结构采用有效测试向量片段间转移的方式,除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量,并把有效测试向量片段以消耗功耗最小原则依次送入被测电路,减少了测试时间,在硬件代价不高的基础上有效降低了测试功耗。
- 杨婷邝继顺
- 关键词：内建自测试低功耗测试
- 一种压缩向量对测试集的新方法
- 2006年
- 通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常(例如开路故障)不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上,提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。
- 章毓杰邝继顺
- 关键词：瞬态电流测试测试集开路故障解码
- 一种斜率可配置的斜坡补偿与求和电路
- 在峰值电流模DC/DC开关电源中，斜坡补偿技术提高了电流内环的稳定性和响应速度。本发明公开了一种基于开关电容电路的斜坡补偿电路，仅使用一个放大器同时实现了感应电压放大、斜坡补偿与感应电压求和的功能，并且补偿斜率可配置，大...
- 李少青邝继顺吴了张民选张明何小威孙岩乐大珩
- 文献传递
- 工语语音识别中基元选择、特征抽取及识别策略的研究
- 邝继顺
- 量子可逆逻辑电路中单个门故障的在线检测方法
- 2015年
- 可逆计算满足未来计算的需要,已成为量子计算、低能耗计算等新兴领域的研究基础。目前,研究者仅探讨了可逆电路的在线检错,在线纠错还未提出解决办法。分析论证了Toffoli可逆电路在发生单个门故障时,产生的错误输出具有互补特性。基于该特性,提出了一种在线纠错方法,将已有电路自动转换成在线纠错电路。该方法实时检测电路的输出错误,若出错,将错误输出对应的正确输入加载至原有电路得到正确输出,从而纠正单个门故障引起的多位输出错误,实现"无垃圾输出"的在线纠错。对Revlib中的一组电路进行实验,结果表明用所提方法构建的在线纠错电路在量子成本、垃圾输出、可逆门数目和传输线数上都明显优于传统的三模冗余方法(TMR)。
- 凌纯清邝继顺尤志强谢鲲
- 用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器被引量：2
- 2006年
- 检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对。实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。
- 邓小飞邝继顺
- 关键词：BIST
