邹云娟
- 作品数：19 被引量：34H指数：4
- 供职机构：北京工业大学更多>>
- 发文基金：北京市自然科学基金国家自然科学基金北京市科技新星计划更多>>
- 相关领域：理学电子电信一般工业技术化学工程更多>>
- 富勒烯-聚甲基丙烯酸甲酯复合膜溶胶-凝胶制备与结构的研究被引量：3
- 2000年
- 采用溶胶-凝胶的方法，在Si（100）衬底上制备了C60-聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA ）复合膜.红外光谱分析表明，C60分子已均匀地分布在PMMA中，凝胶以后形成了C 60-PM MA复合膜.利用X射线衍射（XRD）谱研究了该复合膜的结构，结果表明，在200℃真空退火后 C60分子 趋向相互聚集并形成晶化C60颗粒，其尺寸强烈依赖于C60含量.随C60含 量的增加，晶化C6 0颗粒尺寸增大.高C60含量的复合膜中多晶状态的C60 颗粒，呈现面心 立方（fcc）结构〈111〉方向的择优排列特征；并且观察到XRD信号极强的、异常的333衍射 峰现象，对其产生机理进行了初步探讨.
- 李英兰李朝阳邹云娟严辉陈光华
- 关键词：溶胶-凝胶复合膜
- C<,60>-PMMA复合膜的光荧光特性
- 了C<,60>含量在1℅～10℅的C<,60>-PMMA复合膜，光荧光（PL）谱的测量结果显示，从1. 661ev到2．405eV，所有含量的C<,60>-PMMA复合膜都呈现出较强的...
- 严辉宋雪梅邹云娟张兴旺王波陈光华马国斌
- 关键词：光荧光
- SiC薄膜生长过程中的偏压作用被引量：2
- 2002年
- 采用分步偏压溅射法，在Ｓｉ（１００）衬底上制备了高质量的ＳｉＣ薄膜．傅里叶红外（ＦＴＩＲ）光谱测试表明，分步偏压法不仅有利于提高ＳｉＣ薄膜的生长速率，同时也有利于ＳｉＣ薄膜的成核生长．通过原子力显微镜（ＡＦＭ）观察到，单一偏压法制备的样品表面有许多的凹坑，而分步偏压法制备的样品表面则没有出现明显的凹坑．因此，采用分步偏压溅射法不仅可以提高薄膜的生长速率，同时也可以减小对薄膜的离子刻蚀作用，改善薄膜的质量．
- 王玫谭利文王波邹云娟严辉姚振宇
- 关键词：SIC碳化硅薄膜生长
- 离子注入对C_(60)薄膜结构的影响被引量：1
- 1999年
- 利用高能离子注入技术系统地研究了不同剂量、不同种类离子注入对Ｃ６０薄膜结构的影响，并利用Ｒａｍａｎ光谱对其结构进行分析．结果表明：中等能量的离子注入会影响Ｃ６０薄膜的结构，使Ｃ６０分子薄膜产生聚合和非晶碳化现象，但上述现象的出现与注入离子的剂量大小有关，并存在一注量阈值，只有在此阈值之上，Ｃ６０薄膜结构才发生改变。
- 姚江宏许京军张光寅邹云娟陈光华杨茹金永范
- 关键词：碳60离子注入拉曼光谱分析
- C<,60>/氟金云母复合膜光吸收谱研究
- 用热壁外延法在氟金云母上生长出了高质量C<,60>薄膜,用原子力显微镜观察了样品的表面形貌,并测量了不同厚度C<,60>薄膜的紫外-可见吸收光谱.由近带隙区的透射及反射光谱,经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系,并利...
- 邹云娟宋雪梅严辉陈光华
- 关键词：吸收光谱光学带隙氟金云母原子力显微镜表面形貌
- 文献传递
- 富勒烯-聚甲基丙烯酸甲脂复合膜的结构研究
- i（100）的衬底上，制备出C<,60>-聚甲基丙烯酸四脂（PMMA）比例不同的复合膜。通过X射线衍射谱的测量，结果发现在PMMA中的C<,60>分子趋向子相互聚集并形成非晶或晶化的C<,6...
- 严辉邹云娟宋雪梅张兴旺王波陈光华马国斌
- 关键词：富勒烯
- 金刚石N型掺杂的现状和问题被引量：2
- 1997年
- 对金刚石中Li、Na、P等可能的施主杂质,就施主能级、溶解度、稳定性、原子半径等几种特性参数与实现N型掺杂的关系做了分析和讨论;总结了金刚石三种掺杂方法的特点;并对金刚石N型掺杂研究中所得结果和存在的问题进行了分析和探讨。
- 张兴旺严辉邹云娟陈光华
- 关键词：金刚石掺杂N型锂钠磷
- C60薄膜的结构和特性研究
- C是碳的一种新的同素异形体,具有高度对称的结构和独特的物理化学性质,引起了广大科学工作者的极大兴趣.本文报道有关C薄膜及相关衍生物薄膜材料的制备与特性的研究结果,并进一步探讨主要的发展趋势.
- 王波邹云娟王玫陈光华严辉
- 关键词：掺杂光电特性
- 文献传递
- GaAs(100)衬底上C_60单晶膜的取向生长被引量：4
- 1997年
- 利用双温区真空蒸发沉积技术成功地在ＧａＡｓ（１００）衬底上实现了完全（１１１）取向的Ｃ６０单晶膜的生长．用扫描电子显微镜和Ｘ射线衍射技术对Ｃ６０单晶膜的形貌和结构进行了分析．结果表明：能实现Ｃ６０取向生长的衬底温度范围很窄，温度过高或过低都易造成晶粒的取向无序．对实验结果做出了合理的解释。
- 姚江宏邹云娟张兴旺陈光华
- 关键词：砷化镓碳60单晶生长
- 氟金云母衬底上C_(60)薄膜的光学性质被引量：4
- 2001年
- 用热壁外延法在氟金云母衬底上生长出了高质量 C6 0 薄膜 ,用原子力显微镜观察了样品的表面形貌 .测量并分析了不同厚度 C6 0 薄膜的紫外 -可见吸收光谱 .由测量的透射及反射光谱 ,经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系 .利用结晶半导体的带间跃迁理论 ,对禁戒的带间直接跃迁 hu→ t1 u和电偶极允许的带间直接跃迁 hu→ t1
- 邹云娟张兴旺宋雪梅严辉陈光华
- 关键词：吸收光谱光学带隙光学性质
