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张晓龙

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院深圳先进技术研究院更多>>

合作作者

文献类型

  • 4篇中文专利

主题

  • 2篇导电胶
  • 2篇探针
  • 2篇探针卡
  • 2篇通孔
  • 2篇阻抗
  • 2篇晶片
  • 2篇基板
  • 2篇基板制造
  • 2篇故障检测
  • 2篇硅
  • 1篇信号
  • 1篇信号传输
  • 1篇信号传输质量
  • 1篇容抗
  • 1篇凸起

机构

  • 4篇中国科学院

作者

  • 4篇徐国卿
  • 4篇张晓龙
  • 4篇李慧云
  • 2篇蒋力
  • 2篇徐强
  • 2篇苏少博

年份

  • 2篇2016
  • 2篇2013
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡
本发明涉及一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡，所述测试基板顶部表面上的测试端微凸起按照待测晶片底部待测触点的布局进行排列，通过顶层布线与过基板穿孔对应连接并电导通，过基板穿孔与测试基板底部表面的探测凸起对应连接并电...
蒋力徐强李慧云徐国卿苏少博张晓龙
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一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡
本发明涉及一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡，所述测试基板顶部表面上的测试端微凸起按照待测晶片底部待测触点的布局进行排列，通过顶层布线与过基板穿孔对应连接并电导通，过基板穿孔与测试基板底部表面的探测凸起对应连接并电...
蒋力徐强李慧云徐国卿苏少博张晓龙
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一种采用二分法对硅通孔进行故障检测的方法和系统
本发明公开了一种采用二分法对硅通孔进行故障检测的方法和系统，所述方法包括：预先根据故障硅通孔的分布对测试区域进行划分，将测试区域划分为中心区域、边缘区域和不合格区域；对硅通孔进行分组，每组包括有数个硅通孔，依次将测试用探...
李慧云张晓龙徐国卿
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一种采用二分法对硅通孔进行故障检测的方法和系统
本发明公开了一种采用二分法对硅通孔进行故障检测的方法和系统，所述方法包括：预先根据故障硅通孔的分布对测试区域进行划分，将测试区域划分为中心区域、边缘区域和不合格区域；对硅通孔进行分组，每组包括有数个硅通孔，依次将测试用探...
李慧云张晓龙徐国卿
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