您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇导电胶
  • 2篇探针卡
  • 2篇晶片
  • 2篇基板
  • 2篇基板制造
  • 1篇信号
  • 1篇信号传输
  • 1篇信号传输质量
  • 1篇凸起

机构

  • 2篇中国科学院

作者

  • 2篇蒋力
  • 2篇徐国卿
  • 2篇徐强
  • 2篇苏少博
  • 2篇张晓龙
  • 2篇李慧云

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡
本发明涉及一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡,所述测试基板顶部表面上的测试端微凸起按照待测晶片底部待测触点的布局进行排列,通过顶层布线与过基板穿孔对应连接并电导通,过基板穿孔与测试基板底部表面的探测凸起对应连接并电...
蒋力徐强李慧云徐国卿苏少博张晓龙
文献传递
一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡
本发明涉及一种测试基板及采用该测试基板制造的探针卡,所述测试基板顶部表面上的测试端微凸起按照待测晶片底部待测触点的布局进行排列,通过顶层布线与过基板穿孔对应连接并电导通,过基板穿孔与测试基板底部表面的探测凸起对应连接并电...
蒋力徐强李慧云徐国卿苏少博张晓龙
文献传递
共1页<1>
聚类工具0