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杨永康

作品数：1 被引量：3H指数：1
供职机构：哈尔滨工业大学材料科学与工程学院材料物理与化学系更多>>
相关领域：理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇理学

主题

  • 1篇定位技术
  • 1篇原子力显微镜
  • 1篇膜厚
  • 1篇分子
  • 1篇高分子
  • 1篇高分子薄膜

机构

  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇辽宁工程技术...

作者

  • 1篇杨永康
  • 1篇王铀
  • 1篇洪晓东

传媒

  • 1篇高分子材料科...

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
原子力显微镜在高分子薄膜领域的应用被引量：3
2013年
介绍了原子力显微镜(AFM)在高分子薄膜领域中的最新应用技术。在定位观察薄膜时,可采用碳纳米管定位法以及针尖打孔定位法对所观察的样品进行定位,该方法可实现对样品进行离位处理之后再次精确定位。在测量高分子薄膜厚度时,可采用针尖打孔法和漂膜法通过制备断面台阶利用AFM精确测量薄膜厚度。基于特殊相分离形貌的嵌段共聚物薄膜,可采用AFM针尖对其表面进行锻造纳米加工。这些技术拓展了AFM在聚合物薄膜表征以及纳米加工等领域的应用。
洪晓东王铀杨永康
关键词：原子力显微镜定位技术
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