周玉芬
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- 胞外高钾对大鼠背根神经元超极化电流的影响
- 2009年
- 应用全细胞膜片钳技术研究了胞外高钾对大鼠背根神经元(DRG)超极化电流(Ih)的影响.结果表明,Ih随着胞外钾离子浓度的增大而增大,同时随着外加刺激电压的增高而增强.当胞外钾离子浓度[Kext]为4,8和16mmol/L时,半数激活电压V1/2分别为-98±1.9,-106±1.3(p<0.05)和-110±1.0mV(p<0.05),其对应的最大电流的峰值分别为1085±340,1576±409和2124±614pA,与4mmol/L比较,后者分别增长了45%和92%.胞外高钾使Ih激活曲线显著左移,说明高Kext改变了超极化电流的激活过程.提高细胞外钾离子浓度,可以使早期钾通道(又称快通道)的激活时间常数增大,使晚期钾通道(又称慢通道)激活时间常数减小.当胞外钾离子浓度由4mmol/L升高到8和16mmol/L时,翻转电位右移,但不具有显著性差异.结果提示,细胞外高浓度钾可增强大鼠背根神经元超极化电流Ih,改变Ih的激活过程,从而提高了神经元的兴奋性,产生不正常的动作电位,对神经细胞产生损伤.
- 杜正清武文杰周玉芬
- 关键词：膜片钳
