殷玉喆
- 作品数：3 被引量：9H指数：2
- 供职机构：中国电子技术标准化研究院更多>>
- 相关领域：电子电信一般工业技术机械工程更多>>
- GaAs衬底共面波导S参数标准样片研制被引量：5
- 2017年
- GaAs等固态微波裸芯片电性能测试需要采用探针将共面波导参考面过渡到同轴参考面。设计制作了用于微波探针校准的GaAs衬底的计量级标准样片,包括SOLT和TRL校准模块,以及匹配传输线、衰减及驻波等验证模块。提出了平衡电桥结构,兼具衰减驻波标准,带内平坦,且工艺适应性好。经过与国外校准片比对,验证了频率覆盖100 MHz^50 GHz,驻波比测量范围:1.1,1.5,2.5,5,10;衰减测量范围:-1 dB,-2 dB,-3 dB,-10 dB,-20dB,-30 dB,-40 dB;匹配负载反射损耗小于-30 dB。同时提取了SOLT校准模块的矢网校准用参数。
- 殷玉喆张旭勤高猛张继平
- 关键词：校准共面波导S参数
- 固态微波功率器件测量夹具及其校准技术研究被引量：4
- 2017年
- 固态微波功率器件由于其封装形式的特殊性,测量过程中必须引入测量夹具作为桥梁,才能完成接口形式的转换,进而开展测试工作。针对固态微波功率器件微波电参数在测试中,测量夹具给测量结果带来影响的问题,对固态微波功率器件测量夹具及其校准技术进行了研究。文章介绍了采用TRL校准方法,并利用矢量网络分析仪的误差修正功能来去除测量夹具误差,从而得到被测器件的真实性能参数。通过具体试验数据表明,对测量夹具的校准和误差的去除是可行有效的,从而可以在测量结果中去除测量夹具的影响而得到被测器件的"净"参数。
- 王文娟张继平阚劲松王酣王晓童殷玉喆
- 关键词：测试夹具
- 校准片及基于该校准片对固态微波器件测试系统校准的方法
- 本发明公开了一种校准片及基于该校准片对固态微波器件测试系统校准的方法，本发明通过将水平薄膜电阻进行蛇形布线，或者通过将垂直薄膜电阻设置为多段并联的薄膜电阻，以使水平薄膜电阻与垂直薄膜电阻的比值r大于4:1或小于1:4，从...
- 殷玉喆温礼瑞张旭勤
- 文献传递
