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吴宇芳

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:南京邮电大学电子科学与工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 1篇导通
  • 1篇导通电阻
  • 1篇电阻
  • 1篇阳极短路
  • 1篇双极晶体管
  • 1篇晶体管
  • 1篇绝缘栅
  • 1篇绝缘栅双极晶...
  • 1篇击穿电压
  • 1篇横向绝缘栅双...
  • 1篇反型层
  • 1篇负阻
  • 1篇负阻效应
  • 1篇SOI
  • 1篇LDMOS
  • 1篇LIGBT
  • 1篇P

机构

  • 2篇南京邮电大学

作者

  • 2篇成建兵
  • 2篇周骏
  • 2篇吴宇芳
  • 2篇陈珊珊
  • 2篇王勃

传媒

  • 2篇微电子学

年份

  • 2篇2017
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
阶梯掺杂P柱区二维类超结LDMOS的研究
2017年
提出了一种阶梯掺杂P柱区二维类超结LDMOS结构。漂移区采用P/N柱交替掺杂的方式形成纵向类超结。漂移区的P柱采用掺杂浓度从源端到漏端逐渐变低的变掺杂结构。这种变掺杂P柱区的引入对衬底辅助耗尽效应所带来的电荷不平衡问题进行了调制,使得漂移区可以充分耗尽,提高了耐压。P区变掺杂可以提高N区浓度,降低了导通电阻。与常规二维类超结LDMOS结构相比,击穿电压提高了30%,导通电阻下降了10.5%,FOM提升了87.6%,实现了击穿电压与导通电阻的良好折中。
袁晴雯成建兵周骏陈珊珊吴宇芳王勃
关键词:击穿电压导通电阻
基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型SOI LIGBT
2017年
在SOI衬底上,制作了一种基于阳极弱反型层消除负阻效应的新型横向绝缘栅双极晶体管(SOI AWIL-LIGBT)。利用反型所形成的高阻值电阻来使PN结阳极快速导通,阳极P+区中的空穴可以更快地注入漂移区,从而消除负阻效应。仿真结果表明,该新型LTGBT在保证关断速度不变的情况下,击穿电压为307V(漂移区长度为18μm)比,比常规SA-LIGBT提升了56%,并消除了负阻效应。
周骏成建兵袁晴雯陈珊珊吴宇芳王勃
关键词:反型层
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