李卫涛
- 作品数：4 被引量：10H指数：2
- 供职机构：中国计量学院信息工程学院光电信息工程系更多>>
- 发文基金：浙江省自然科学基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学一般工业技术更多>>
- 会聚偏光干涉测量晶体双折射率被引量：1
- 2006年
- 光轴平行表面的晶片的会聚偏光干涉对晶体的双折射率非常敏感。干涉图的对称中心对应于正入射光线,双折射率正比于此点的干涉级md,md的小数部分主要由中央暗条纹的位置决定,md的整数部分由自洽的办法求出。干涉条纹可以用双曲线很好地拟合,使干涉图特征点的提取更为精确。用不同厚度的铌酸锂晶片作了测量,双折射率不确定度为1×10-4。
- 毛谦敏沈为民李卫涛
- 关键词：晶体光学折射率测量单轴晶体CCD摄像机
- CCD图像法测量晶体光轴方向被引量：1
- 2006年
- 提出了用CCD摄像机采集晶体锥光干涉图来快速精确测量晶体的光轴方向的方法。转动晶片使光轴的出露点形成圆形轨迹,通过最小二乘法对多个测试点拟合得到圆半径和圆心坐标。利用光轴垂直表面的晶片的锥光干涉图来确定数字图像中的距离与光线入射角的关系,使定标误差减小约一个数量级。分析了系统测量误差,提出了为保证测量精度需要采取的措施。对多片不同光轴取向的铌酸锂晶体进行了测量,误差小于0.1°。
- 沈为民李卫涛李群邵中兴
- 关键词：晶体光学锥光干涉图单轴晶体CCD摄像机
- 大光轴倾角的偏光干涉测量方法被引量：3
- 2007年
- 针对偏光干涉法测量晶体光轴倾角存在精度低、范围小的缺点,提出了用相对光轴出露点的条纹数而不是距离来决定光轴倾角。将条纹数分为整数部分和小数部分,用非线性插值方法求解小数部分,用主截面内干涉条纹的相对位置决定整数部分。对6块铌酸锂晶体在不同单色光源、不同数值孔径下进行测量,结果相当一致。实验表明,光轴倾角的测量范围可有效拓宽,而测量误差可减小到0.1°。
- 沈为民李卫涛王育红方涛
- 关键词：计量学单轴晶体锥光干涉图
- 双轴晶体会聚偏光干涉的理论与实验研究被引量：5
- 2005年
- 晶体会聚偏光干涉图包含了晶体特性的许多信息,建立偏光干涉图的定量分析方法可以使这些信息得到充分利用。基于双轴晶体折射时满足的波矢关系,导出了两折射光波相位差的精确计算公式。分析了光波在各界面折射时偏振态的变化,提出了会聚偏光干涉合成振幅的计算方法。针对任意取向的双轴晶体,计算了完整的偏光干涉图,反映了相位分布决定等色线、振幅分布决定消光影的规律。用数字图像模似了干涉图,并讨论了干涉图的变化情况。对4块不同取向的KTP晶片进行实验,实验干涉图与理论干涉图的特征完全一致,两者仔细对比可判断现有KTP晶体色散方程的优劣。
- 沈为民张艺金永兴邵中兴李卫涛
- 关键词：晶体光学双轴晶体偏振色散方程
