您的位置: 专家智库 > >

李彦伟

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇SPC
  • 1篇统计过程
  • 1篇统计过程控制
  • 1篇目标值
  • 1篇控制图
  • 1篇计算机
  • 1篇计算机辅助制...
  • 1篇过程控制
  • 1篇标值
  • 1篇CAM
  • 1篇CPK

机构

  • 1篇河北半导体研...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 2篇付兴昌
  • 2篇李保第
  • 2篇崔玉兴
  • 2篇李彦伟
  • 1篇杨中月
  • 1篇闫锐
  • 1篇胡玲
  • 1篇刘福庆

传媒

  • 1篇电子工艺技术
  • 1篇微纳电子技术

年份

  • 1篇2015
  • 1篇2010
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
SPC参数控制限和规范限的定义
2015年
介绍了定义SPC控制限和规范限的一套方法。在多品种小批量的化合物半导体前道工艺线推行SPC的过程中,针对不同参数的性质不同,分别总结出了三种不同的定义方法,从而对前道工艺流程的全部参数实行了SPC监控,并在实际的控制中证明该方法是有效的。该方法解决了困扰SPC使用者如何定义控制限和规范限的难题,尤其对于刚开始推行SPC的生产线有借鉴意义。
李保第李彦伟孙天玲闫锐崔玉兴付兴昌
关键词:SPC目标值CPK
半导体工艺线CAM及SPC的应用被引量:2
2010年
探讨了在多品种小批量半导体工艺生产线上开发应用CAM技术及实现SPC控制的方法。作者及同事开发了适用于所在工艺线特点的CAM软件系统程序——WI系统,用于工艺的指导和记录、生产的安排和监控以及数据的记录和提取。利用SPC方法对由WI提取的数据进行统计分析处理,做出控制图,对各种工艺异常进行分析判断进而做出工艺调整,以实现有效的工艺监控,逐步提高工艺加工能力和稳定性。该生产控制方法的应用为工艺线产品的研制和生产提供了有力保证。
李保第刘福庆李彦伟杨中月胡玲崔玉兴付兴昌
关键词:控制图
共1页<1>
聚类工具0