您的位置: 专家智库 > >

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇天文地球
  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇耦合剂
  • 1篇晶体
  • 1篇刻度
  • 1篇光电
  • 1篇光纤
  • 1篇仿真
  • 1篇感器
  • 1篇超标
  • 1篇传感
  • 1篇传感器
  • 1篇传感器检测

机构

  • 2篇川庆钻探工程...
  • 1篇长江大学

作者

  • 2篇阳成军
  • 1篇陈敏
  • 1篇向亚林
  • 1篇王胜乔
  • 1篇梁红
  • 1篇郑光辉
  • 1篇徐峰
  • 1篇粟飞

传媒

  • 1篇长江大学学报...
  • 1篇石油管材与仪...

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2009
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
5700系列2234XA密度刻度超标故障分析及维修
2016年
5700系列密度仪用于探测地层的体积密度(ρ)和光电吸收指数(PE),同时还具有测量井眼井径功能。2234XA是贝克休斯公司相较2228XA升级的产品,在各项性能上均优于2228XA,在川渝地区极限温度146°C的实际使用中,性能优秀。针对川庆测井一只正常使用中的2234XA出现刻度不能通过问题,总结介绍了一些经验和解决的方法。
陈敏徐峰阳成军梁红郑光辉
关键词:晶体
D-型光纤传感器检测流体折射率的仿真
2009年
为了利用D-型光纤传感器来检测流体的折射率或浓度,采用固定波长的入射光,改变入射角度的方法,通过Matlab对模型进行数值模拟研究了光反射强度与纤芯、入射角、金属膜厚度、SiO2膜厚度以及被测介质折射率之间的关系。模拟结果表明,纤芯折射率变大时,共振角减小;当入射角在共振角附近时,光强反射率变化明显;金属膜厚度对光强反射率影响明显,但对共振角影响甚小;不同折射率的被测介质对应的共振角度不同。因此可通过检测不同入射角下的光强反射率,找到共振角,从而达到确定被测流体的折射率或浓度的目的。
王胜乔粟飞阳成军向亚林
关键词:传感器
共1页<1>
聚类工具0