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田璐

作品数：2 被引量：7H指数：2
供职机构：华北光电技术研究所更多>>
相关领域：机械工程电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇液相外延
  • 1篇扫描电子显微...
  • 1篇碲化镉
  • 1篇碲镉汞
  • 1篇微波消解
  • 1篇红外
  • 1篇分子束
  • 1篇分子束外延
  • 1篇高纯
  • 1篇高纯材料
  • 1篇HG

机构

  • 2篇华北光电技术...

作者

  • 2篇王文燕
  • 2篇田璐
  • 2篇折伟林
  • 1篇许秀娟
  • 1篇沈宝玉
  • 1篇晋舜国

传媒

  • 2篇激光与红外

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2012
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
Hg_(1-x)Cd_xTe/CdTe/Si薄膜厚度测试方法的研究被引量：4
2012年
在分子束外延生长高质量的CdTe/Si复合衬底上,分别通过MBE和LPE技术成功地研制出Hg1-xCdxTe/CdTe/Si红外探测器所需的重要红外半导体材料。利用傅里叶变换红外光谱仪对Hg1-xCdxTe/CdTe/Si红外半导体材料的红外透射光谱进行测试分析且计算薄膜厚度,并配合扫描电子显微镜对其厚度计算分析进行校正,最终获得一种无破坏、无污染、快捷方便的多层膜厚度测试方法。
折伟林田璐晋舜国许秀娟沈宝玉王文燕
关键词：扫描电子显微镜分子束外延液相外延
微波消解技术在红外高纯材料杂质测试中的应用被引量：3
2013年
微波消解是近年来迅速发展起来的样品处理技术,其具有高效、快速、易于控制、防止易挥发组分损失、对环境无污染、节能降耗等优点,目前已广泛应用在多个领域。本文以高纯Cd杂质测试为例说明微波消解技术在红外高纯材料杂质含量分析中的应用。
田璐折伟林王文燕
关键词：微波消解高纯材料
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