陈新军
- 作品数：3 被引量：9H指数：2
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究
- CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片上集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。本文...
- 焦慧芳陈新军张晓松
- 关键词：CMOS电路瞬态电流测试仿真解析模型
- 文献传递
- 基于ATE的LVDS芯片测试技术被引量：5
- 2012年
- 介绍了基于自动测试设备(ATE)的低压差分信号(LVDS)芯片测试,从LVDS测试板设计、功能测试、直流参数测试和交流参数测试4个方面阐述了LVDS芯片测试的要点,结果表明,ATE上的测试结果符合ANSI/TIA/EIA-644定义的LVDS信号的接口特性。
- 陈新军
- 关键词：低压差分信号自动测试设备直流参数交流参数
- ADC INL/DNL测试的直方图方法研究被引量：4
- 2019年
- 直方图方法是模数转换器ADC非线性参数INL/DNL测试的主要方法,从采样点数、输入波形方面分析了直方图方法对测试结果的影响。结果表明,利用直方图方法测试ADC的非线性参数时,随着ADC采样点数的增加,测试结果会越来越好,并且方差分析表明测试结果的测定性和可靠性均较理想;斜波信号测试结果略优于正弦波信号,但随着采集点数的增加,两者的测试结果趋于一致,在采样点数理论值附近时,两者基本没有差别。
- 陈新军李军求
- 关键词：微分非线性积分非线性直方图采样点
