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文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 4篇专利

领域

  • 3篇电子电信
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇机械工程
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇理学

主题

  • 2篇电路
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  • 2篇电子产品可靠...
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  • 2篇可靠性
  • 2篇环境试验
  • 2篇集成电路
  • 1篇电源
  • 1篇亚微米级
  • 1篇延迟时间
  • 1篇预计方法
  • 1篇沙埋
  • 1篇试验结果

机构

  • 10篇中国电子科技...

作者

  • 10篇李真
  • 6篇邓永芳
  • 5篇张丽巍
  • 5篇罗俊
  • 3篇李晓红
  • 2篇邢宗锋
  • 2篇邱忠文
  • 2篇张锋
  • 1篇罗璞

传媒

  • 3篇环境技术
  • 1篇计算机与数字...
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇微电子学

年份

  • 1篇2024
  • 3篇2023
  • 2篇2019
  • 1篇2017
  • 2篇2015
  • 1篇2014
10 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
深亚微米级器件总剂量试验灵敏区剂量修正的方法
本发明公开了一种深亚微米级器件总剂量试验灵敏区剂量修正的方法,包括:仿真建模得到深亚微米级器件模型并仿真辐照试验环境统计器件模型中各板层的吸收剂量;添加平衡层的仿真模型并确定器件模型的敏感层达到次级电子平衡时平衡层的厚度...
任李贤李真 谭骁洪 魏莎莎罗俊
电子元器件可靠性技术发展综述被引量:4
2023年
电子元器件的质量和可靠性在科研领域直接决定了系统的质量,其中可靠性成为保证质量的重要一环,也受到了学术界和工业界的广泛关注。为此,首先,梳理了国内外电子元器件可靠性技术的发展现状;然后,对电子元器件可靠性分析方法进行了归纳和分析;最后,探讨了电子元器件可靠性发展趋势。
魏莎莎李真
关键词:电子元器件可靠性分析
影响剪切强度试验结果的因素研究被引量:1
2015年
分析了影响剪切强度试验结果的因素;对这些影响因素进行逐一试验;建立了数学模型,对试验数据进行统计分析。根据研究结果,改进试验操作方法,提高试验结果的准确性。
邓永芳李真罗俊张丽巍
关键词:数学模型统计分析
集成电路器件老化后键合试验异常失效分析方法
本发明涉及一种集成电路器件老化后键合试验异常失效分析方法,包括:对分析标的器件和分析参考器件依次进行键合丝拉力试验和切片试验,检查异常情况并判断相关的失效原因;追溯键合工序和老化试验中使用的设备以及与判断的失效原因相关的...
罗雨薇罗璞杨志军李真熊林香
一种新的DC-DC混合电源寿命预计方法被引量:4
2015年
随着国产DC-DC混合电源产品的快速发展,其寿命越来越长,如何快速、准确地评价产品的寿命成为一项十分重要且紧迫的问题。瓷介电容和厚膜电阻是DC-DC混合电源中最容易发生失效的部位,是影响DC-DC混合电源寿命的关键元器件。通过对瓷介电容和厚膜电阻进行加速寿命试验,得到实际的失效率,进而通过可靠性预计的方法,获得DC-DC混合电源准确的寿命信息。
李真邓永芳罗俊
集成电路延迟时间测量结果的不确定度评定被引量:2
2019年
采用GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》[1]第Ⅳ篇测试方法第3节动态测试的测试方法分别对某运算放大器、开关驱动器和标准模块的延迟时间进行测试,并按JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》[2]、CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》[3]、CNAS-GL08:2006《电器领域不确定度的评估指南》[4]的要求,对测量结果进行不确定度评定[5]。
李晓红邓永芳张丽巍陈敏李真
关键词:集成电路延迟时间不确定度
电子元器件可靠性试验方法研究被引量:2
2023年
电子元器件是系统和组件的重要组成部分,提高电子元器件的可靠性是系统可靠运行的基础。在对产品发布之前需要对其可靠性的性能进行评估,因此需要对其进行可靠性试验。然而,在正常条件下对其进行试验所花费的成本是巨大的,特别是军用装备,可靠性要求更为严苛。因此需要研究一些试验方法来测试其可靠性指标。本文主要对常用的可靠性试验方法进行了介绍,包括高加速寿命试验、可靠性增长实验、加速寿命试验等可靠性试验方法,并对可靠性试验方法进行了总结和展望。
魏莎莎李真
关键词:电子元器件加速寿命试验
“沙埋型”夹具在振动试验中的运用分析被引量:1
2014年
为了减少振动试验中的误差传递,介绍了振动夹具的设计,探讨"沙埋型"夹具在振动试验中的运用,并对夹具的性能参数进行了测试评估。
李真张丽巍邓永芳
微电路内部气氛检测试验夹具
本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具,涉及电子产品可靠性与环境试验领域,它由母夹体、子夹体、盖体组成,母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔,用于放置子夹体,压腔内设有贯穿的连接通道,用于容纳待测试器件,母夹体在与压腔...
谭骁洪罗俊邢宗锋杨迁李晓红邓永芳张丽巍李真张锋邱忠文吴兆希朱朝轩林震
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微电路内部气氛检测试验夹具
本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具,涉及电子产品可靠性与环境试验领域,它由母夹体、子夹体、盖体组成,母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔,用于放置子夹体,压腔内设有贯穿的连接通道,用于容纳待测试器件,母夹体在与压腔...
谭骁洪罗俊邢宗锋杨迁李晓红邓永芳张丽巍李真张锋邱忠文吴兆希朱朝轩林震
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