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于猛

作品数:4 被引量:0H指数:0
供职机构:中国科学院微电子研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 3篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇单粒子
  • 3篇单粒子翻转
  • 3篇电路
  • 2篇单粒子瞬态脉...
  • 2篇动态比较器
  • 2篇瞬态
  • 2篇锁存
  • 2篇转换电路
  • 2篇放大器
  • 2篇比较器
  • 1篇抖动
  • 1篇读写
  • 1篇随机存取
  • 1篇随机存取存储...
  • 1篇锁相
  • 1篇锁相环
  • 1篇锁相环电路
  • 1篇子模
  • 1篇子模块
  • 1篇相位

机构

  • 4篇中国科学院微...
  • 1篇中国科学院
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 4篇韩郑生
  • 4篇罗家俊
  • 4篇曾传滨
  • 4篇于猛
  • 4篇闫薇薇
  • 1篇高林春
  • 1篇李博

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2019
  • 3篇2017
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种动态比较器
本发明属于抗辐射电路技术领域,公开了一种动态比较器,包括:预存放大器电路,用于执行比较操作并锁存输出比较结果;锁存转换电路,与所述预存放大器电路相连,接收所述比较结果,消除单粒子翻转以及单粒子瞬态脉冲,并输出稳定的比较结...
于猛曾传滨闫薇薇罗家俊韩郑生
文献传递
基于PDSOI的锁相环电路单粒子瞬变敏感性研究
2017年
分析了一款基于0.35μm PDSOI工艺的锁相环(PLL)电路的抗单粒子瞬变(SET)能力,利用相位抖动为表征参数评估SET对PLL电路的影响与产生影响的可能性.电路级仿真采用优化过的SET注入模型,提高了仿真预测的准确程度.分析了PLL电路的SET敏感节点与敏感工作状态,仿真与激光测试表明,分频器(DIV)与输出低压正发射极耦合逻辑(LVPECL)是最敏感的电路模块,其内部节点的敏感性与节点分布和电路工作状态关系密切.最恶劣情况下相位抖动可达输出周期的一半左右,分析结果有助于抗SET加固设计.
于猛曾传滨闫薇薇李博高林春罗家俊韩郑生
关键词:锁相环相位抖动
一种动态比较器
本发明属于抗辐射电路技术领域,公开了一种动态比较器,包括:预存放大器电路,用于执行比较操作并锁存输出比较结果;锁存转换电路,与所述预存放大器电路相连,接收所述比较结果,消除单粒子翻转以及单粒子瞬态脉冲,并输出稳定的比较结...
于猛曾传滨闫薇薇罗家俊韩郑生
文献传递
一种抗单粒子翻转的静态随机存取存储器
本实用新型属于抗辐射电路技术领域,公开了一种抗单粒子翻转的静态随机存取存储器,包括:至少两个相同的子模块;第i个子模块的端口为A<Sub>i_1</Sub>、A<Sub>i_2</Sub>、B<Sub>i_1</Sub>...
于猛曾传滨闫薇薇罗家俊韩郑生
文献传递
共1页<1>
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