刘利珍
- 作品数:7 被引量:18H指数:2
- 供职机构:华北电力大学更多>>
- 发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金河北省自然科学基金电力系统国家重点实验室开放基金更多>>
- 相关领域:电气工程一般工业技术化学工程更多>>
- 基于小波变换的N_2中环氧树脂闪络前后表面形貌定量分析被引量:2
- 2018年
- 在180 kPa纯N_2中对环氧树脂进行不同程度的闪络损伤实验,通过原子力显微镜对材料表面进行测量,提取表面形貌灰度矩阵,再通过小波包两层分解,进而对各个节点重构,比较不同损伤程度的各个频率段的表面形貌特征。结果表明:随着损伤程度的加深,各个频率段的表面高度范围逐渐增加,各个节点的能量值逐渐增大,表面无机物颗粒逐渐显露出来。
- 谢庆焦羽丰刘利珍梁少栋闫纪源王涛
- 关键词:沿面闪络环氧树脂小波分解表面形貌
- 分子数对交联环氧树脂体系特性影响的分子动力学模拟被引量:10
- 2018年
- 分子模拟技术因能够揭示聚合物材料宏观性能与微观结构之间的关联,故被广泛应用于聚合物材料的性能研究。然而在分子模拟研究中,关于分子数对交联环氧树脂体系特性影响的研究却少有涉及。体系中分子数目的合理选择对交联分子模型的合理、准确构建均有一定的影响,从而会影响环氧树脂体系的特性。为此从分子模拟角度出发,基于COMPASS分子力场,采用Material Studio软件建立了不同分子数(DGEBA分子条数分别为24、32、40和48)的交联环氧树脂体系模型,用于分析分子数对交联环氧树脂体系特性的影响。文中计算了各模型的能量、自由体积占比、均方位移等微观结构参数和体积模量、剪切模量、杨氏模量等宏观力学性能参数,并比较了不同体系能量、自由体积占比、MSD和各个模量的变化情况。初步结果表明:随着分子数增加,交联体系的总能量基本不变;总体积呈升高趋势。当交联环氧树脂体系中的DGEBA分子为40个时,交联体系的体积模量和杨氏模量最大,剪切模量略低于含有24个DGEBA分子的体系,综合力学性能较其他3个体系较好。
- 刘利珍谢庆梁少栋赵云晓陆路黄正勇
- 关键词:分子模拟技术微观结构
- 空气中不同表面粗糙度PMMA表面电荷动态特性研究被引量:2
- 2018年
- 绝缘材料的表面物化特性会对其绝缘性能产生重要影响,为研究绝缘材料表面形貌与表面电荷的关系,通过对有机玻璃(PMMA)进行电晕充电,分析电压极性、表面粗糙度、打磨方式对材料表面电荷动态特性的影响。结果表明:打磨处理后PMMA表面电荷动态特性发生改变,在负极性电压下,顺序打磨后材料表面电荷积聚量较未打磨的少,乱序打磨后材料表面电荷积聚量增多。对于电荷消散速率,当材料表面粗糙度较小时,顺序打磨后消散速度较未打磨的快,随着表面粗糙度的增大,消散速度变慢;乱序打磨后电荷消散速度变慢,随着粗糙度的增大,电荷消散速度减慢的现象更为明显。实验中材料表面电荷消散途径主要沿介质表面消散,且负极性表面电荷的消散速率大于正极性表面电荷的消散速率。
- 谢庆刘利珍陈艺丹任洁甘汶艳林浩凡
- 关键词:表面电荷直流电压表面粗糙度有机玻璃
- 一种环氧/酸酐固化物交联分子模型构建及其玻璃化温度提取方法
- 本发明提供了一种环氧/酸酐固化物交联分子模型构建及其玻璃化温度提取方法,包括以下步骤:(1)在仿真软件中构建包括环氧树脂基体单体、酸酐类固化剂单体分子和一次交联分子的混合物分子模型;(2)对(1)中所构建的混合物分子模型...
- 谢庆段祺君付可欣张磊张采芹陆路刘利珍梁少栋律方成
- 文献传递
- 三参数韦伯分布处理闪络电压分析绝缘材料性能的方法
- 本发明公开了一种三参数韦伯分布处理闪络电压分析绝缘材料性能的方法,包括以下步骤:采集n个闪络电压,按升序排列组建电压向量U,并赋予失效序数;建立三参数韦伯分布闪络电压概率模型;计算各失效序数下的闪络电压对应的累积闪络概率...
- 谢庆梁少栋阚宇强刘利珍焦羽丰付可欣黄河律方成
- 文献传递
- 一种环氧/酸酐固化物交联分子模型构建及其玻璃化温度提取方法
- 本发明提供了一种环氧/酸酐固化物交联分子模型构建及其玻璃化温度提取方法,包括以下步骤:(1)在仿真软件中构建包括环氧树脂基体单体、酸酐类固化剂单体分子和一次交联分子的混合物分子模型;(2)对(1)中所构建的混合物分子模型...
- 谢庆段祺君付可欣张磊张采芹陆路刘利珍梁少栋律方成
- 文献传递
- 基于功率谱密度分析的针针电极下环氧树脂不同老化程度表面形貌研究被引量:5
- 2017年
- 在真空直流条件下对针针电极的环氧树脂进行闪络老化实验,闪络次数分别为0、50、100、200,通过原子力显微镜(AFM)观察材料表面,获取绝缘材料表面灰度图,并计算表面功率谱密度,定量分析材料表面形貌的变化趋势。结果表明:表面功率谱密度计算结果与定性分析一致;闪络老化后垂直于电极连线方向的低频谱值远大于沿电极方向的低频谱值,表明闪络后材料表面在垂直于电极连线的方向有更明显的沟壑和突起。
- 谢庆王幼男刘利珍焦羽丰王涛
- 关键词:沿面闪络表面形貌