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曾静

作品数:1 被引量:4H指数:1
供职机构:大冶有色金属公司更多>>
相关领域:化学工程更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇化学工程

主题

  • 1篇氧化硅
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱法
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱法
  • 1篇光谱法测定
  • 1篇二氧化硅
  • 1篇粉末压片
  • 1篇粉末压片法
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...

机构

  • 1篇大冶有色金属...
  • 1篇湖北省鄂东南...

作者

  • 1篇胡军凯
  • 1篇李玉琴
  • 1篇曾静
  • 1篇冯朝军
  • 1篇刘艳

传媒

  • 1篇岩矿测试

年份

  • 1篇2011
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
X射线荧光光谱法测定含金石英石中7种成分被引量:4
2011年
采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中SiO2、Al2O3、TFe2O3、CaO、MgO、Pb、Zn等7种成分。根据含金石英石中SiO2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数。对于Si和Al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著;制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度(RSD,n=11)均小于2.5%。与化学法对照,结果符合较好。
刘艳曾静胡军凯李玉琴冯朝军
关键词:粉末压片法X射线荧光光谱法二氧化硅
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