徐寒
- 作品数:8 被引量:13H指数:2
- 供职机构:华南理工大学更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划国家科技重大专项更多>>
- 相关领域:自动化与计算机技术更多>>
- 一种用于集成电路封装中的X射线图像模糊增强方法
- 本发明公开了一种用于集成电路封装中的X射线图像模糊增强方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X射线图像,得到X射线图像f(x,y);(2)对所述X射线图像f(x,y)进行高斯去噪处理,得到去噪后的X射线图像g(x,...
- 高红霞徐寒胡跃明
- 文献传递
- 集成电路封装中的X射线图像多尺度细节增强方法
- 本发明公开了一种集成电路封装中的X射线图像多尺度细节增强方法,包括以下步骤:1)采集面向集成电路封装过程的X射线图像;2)将X射线图像进行拉普拉斯金字塔分解,获得各尺度的X射线金字塔细节图像;3)对金字塔中底层采用对数增...
- 高红霞徐寒
- 微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法
- 本发明公开了一种微焦点X射线图像噪声建模与去噪方法,包括以下步骤:1)用X光机器采集含有噪声的空白图像A;2)将空白图像A中的噪声视为均值为零的高斯白噪声,计算噪声方差σ<Sup>2</Sup>;3)采集含有对象的微焦点...
- 高红霞徐寒
- 文献传递
- 一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法
- 本发明公开了一种用于集成电路封装中的X射线图像小波同态滤波方法,包括以下步骤:(1)采集被封装元器件的X射线图像,得到X射线图像f(x,y);(2)对所述X射线图像f(x,y)进行对数变换,得到变换图像lnf(x,y);...
- 高红霞徐寒胡跃明
- 文献传递
- 集成电路封装中的X射线图像多尺度细节增强方法
- 本发明公开了一种集成电路封装中的X射线图像多尺度细节增强方法,包括以下步骤:1)采集面向集成电路封装过程的X射线图像;2)将X射线图像进行拉普拉斯金字塔分解,获得各尺度的X射线金字塔细节图像;3)对金字塔中底层采用对数增...
- 高红霞徐寒
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- 面向集成电路封装检测的X射线图像滤波与增强方法研究
- 随着集成电路制造技术的发展,对封装元器件内部缺陷检测提出越来越高的要求。传统的缺陷检测技术无法检测封装元器件内部缺陷,X射线根据其透射原理,对封装元器件进行X射线成像,能够观察到封装元器件的内部缺陷。 然而,集成电路中的...
- 徐寒
- 关键词:集成电路X射线图像压缩感知
- 文献传递
- 图像质量评价方法研究综述
- 图像质量评价是图像处理领域的研究热点。本文在分析建立完善的图像质量评价体制的必要性和意义的基础上,综合论述了图像质量评价的主观和客观方法,并从是否需要参考原始图像的角度对图像质量评价方法进行分类介绍。然后结合具体实例重点...
- 高红霞万燕英徐寒胡跃明
- 关键词:图像处理图像质量评价直方图峰值信噪比结构相似度
- 文献传递
- 微焦点X射线图像乘性加性混合噪声的去除被引量:10
- 2014年
- 考虑微焦点X射线仪成像信噪比低,混合噪声污染严重等问题,提出了一种乘性、加性混合噪声去除方法。首先,建立了含乘性、加性混合噪声的图像模型;其次,基于总变分和稀疏表示原理分别构造了滤除加性噪声和乘性噪声的目标函数;最后,应用显式差分算法和梯度投影算法分步滤除加性噪声和乘性噪声。实验结果显示,与总变分去加性噪声方法相比,该方法处理后的图像平滑区域均值与标准差比(MSR)平均提升了10.9%,细节区域拉普拉斯梯度模(LS)平均提升了15.6%。这些结果表明:本文算法不仅有效滤除了微焦点X射线图像的混合噪声,并且较好地保留了图像细节特征,能够满足集成电路内部缺陷检测对图像平滑度和细节清晰度的要求。
- 高红霞吴丽璇徐寒康慧胡跃明
- 关键词:X射线图像