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王杨

作品数：12 被引量：17H指数：2
供职机构：西安电子科技大学更多>>
发文基金：中央高校基本科研业务费专项资金国家部委预研基金更多>>
相关领域：电子电信理学电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇理学

主题

  • 7篇芯片
  • 7篇CCD芯片
  • 6篇测量系统
  • 4篇谐振
  • 4篇激光
  • 3篇量子效率
  • 3篇非线性
  • 2篇单色光
  • 2篇性能参数
  • 2篇声光
  • 2篇声光开关
  • 2篇平行平板
  • 2篇陀螺
  • 2篇线性校正
  • 2篇谐振法
  • 2篇芯片性能
  • 2篇开关
  • 2篇激光模式
  • 2篇激光陀螺
  • 2篇光开关

机构

  • 12篇西安电子科技...

作者

  • 12篇王杨
  • 11篇邵晓鹏
  • 7篇许宏涛
  • 6篇马菁汀
  • 6篇杨晓晖
  • 6篇钟宬
  • 3篇黄远辉
  • 3篇王阳
  • 3篇陈朝康
  • 2篇吕斐
  • 2篇张崇辉
  • 2篇乔林
  • 2篇卢光旭
  • 2篇侯谨妍
  • 2篇范华
  • 2篇刘飞
  • 2篇徐大庸
  • 2篇林见杰
  • 2篇龚昌妹
  • 2篇陈少冲

传媒

  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇西安电子科技...
  • 1篇第10届全国...

年份

  • 4篇2013
  • 6篇2012
  • 2篇2011
共 12 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
GD08-013CCD芯片量子效率的测量装置及其测量方法
CCD芯片的量子效率表示在曝光时间内到达像素光敏面的光子转换为电子的百分比，与器件的几何结构、材料等有关，是评价CCD芯片性能的最主要因素之一。因此，根据EMVA1288标准设计了一套CCD芯片量子效率的测量装置，并且阐...
邵晓鹏王杨许宏涛
关键词：CCD芯片量子效率测量方法
文献传递
测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片暗信号非均匀性和光子响应非均匀性的方法。主要解决目前对CCD的性能参数测量精确度不够的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调的单色均匀光源系统，产生波长为...
邵晓鹏王阳张临临王杨杨晓晖范华卢光旭马菁汀吕斐许宏涛
文献传递
基于光腔衰荡法的光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种基于光腔衰荡法的光学谐振腔损耗测量系统，主要解决现有系统无法对基模和高阶模的损耗同时进行测量的不足。整个测量系统包括激光器(1)、声光开关(2)、光学系统(3)、谐振腔固定装置(8)、衰荡光信号测量装置(...
邵晓鹏钟宬王杨陈少冲龚昌妹张崇辉侯谨妍杨晓晖
基于谐振法的激光陀螺光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种激光陀螺谐振腔损耗测量系统，主要解决了现有测量系统需要另外系统完成压电陶瓷非线性校正的问题。整个测量系统包括激光器(1)、球面反射镜(2)、二维平行平板(3)、偏振片(4)、1/2波片(5)、谐振腔固定装...
邵晓鹏马菁汀陈朝康林见杰王杨钟宬许宏涛黄远辉王阳杨晓晖
文献传递
测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片量子效率与响应度参数的方法，主要解决现有技术测量精确度低的问题。其实现步骤为：等间隔选择一系列波长，分别利用这些波长值设置波长可调单色均匀光源系统，产生相应波长的单色光，然后按要求拍摄图像信...
邵晓鹏吕斐陈朝康王杨许宏涛乔林杨晓晖徐大庸马菁汀
文献传递
基于光腔衰荡法的光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种基于光腔衰荡法的光学谐振腔损耗测量系统，主要解决现有系统无法对基模和高阶模的损耗同时进行测量的不足。整个测量系统包括激光器(1)、声光开关(2)、光学系统(3)、谐振腔固定装置(8)、衰荡光信号测量装置(...
邵晓鹏钟宬王杨陈少冲龚昌妹张崇辉侯谨妍杨晓晖
文献传递
基于谐振法的激光陀螺光学谐振腔损耗测量系统
本发明公开了一种激光陀螺谐振腔损耗测量系统，主要解决了现有测量系统需要另外系统完成压电陶瓷非线性校正的问题。整个测量系统包括激光器(1)、球面反射镜(2)、二维平行平板(3)、偏振片(4)、1/2波片(5)、谐振腔固定装...
邵晓鹏马菁汀陈朝康林见杰王杨钟宬许宏涛黄远辉王阳杨晓晖
CCD芯片性能参数的测量系统
本发明公开了一种CCD芯片性能参数的测量系统，主要解决现有系统不具有通用性、测量参数不全面和光谱范围窄的不足。整个系统包括可调单色光源系统(1)、积分球(4)、暗室(5)、杜瓦瓶温控室(9)、皮安表(10)、主控电路系统...
邵晓鹏王杨刘飞许宏涛马菁汀徐大雍卢光旭范华杨晓辉乔琳
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CCD芯片关键性能参数的测量系统及其测量方法设计
CCD是现代光电子技术发展中最重要的研究成果之一，作为一种重要的光电探测器件，它的各项性能参数在很大程度上决定了探测系统的性能。因此，在研制探测系统等应用中，需要选择合适性能参数的CCD芯片。但是，CCD生产厂家提供的性...
王杨
关键词：光电探测器件性能参数CCD芯片测量系统
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测量CCD芯片灵敏度、线性度和暗噪声相关参数的方法
本发明公开了一种测量CCD芯片灵敏度、线性度和暗噪声相关参数的方法，主要解决现有技术测量精确度低和测量参数不全面的问题。其实现步骤为：选取CCD芯片量子效率最大所对应的波长η，设置波长可调单色均匀光源系统，产生波长为η的...
邵晓鹏许宏涛乔林王杨马菁汀徐大庸钟宬刘飞靳振华
文献传递
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