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童志强

作品数：2 被引量：7H指数：1
供职机构：华中科技大学光学与电子信息学院电子科学与技术系更多>>
发文基金：江苏省高校自然科学研究项目国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇文化科学

主题

  • 1篇带隙基准
  • 1篇低功耗
  • 1篇电路
  • 1篇助教
  • 1篇网络
  • 1篇网络环境
  • 1篇温度系数
  • 1篇基准电路
  • 1篇计算机
  • 1篇计算机辅助教...
  • 1篇计算机辅助系...
  • 1篇教学
  • 1篇功耗
  • 1篇辅助教学
  • 1篇CAI
  • 1篇CAI系统
  • 1篇CMOS
  • 1篇CMOS工艺
  • 1篇测试实验

机构

  • 2篇华中科技大学

作者

  • 2篇童志强
  • 1篇童乔凌
  • 1篇邹雪城
  • 1篇邱亚琴
  • 1篇喻建英

传媒

  • 1篇微电子学与计...
  • 1篇实验技术与管...

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2005
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
半导体器件特性测试实验CAI系统
2005年
计算机辅助教学(CAI)促进了实验教学发生了重大的变化.本文主要介绍半导体器件特性测试实验之计算机辅助系统,该系统基于Windows平台和网络环境利用VB语言开发,介绍了该系统的结构、总体功能和主要实现技术.
邱亚琴童志强喻建英
关键词：CAI系统网络环境计算机辅助系统
基于CMOS的低功耗基准电路的设计被引量：7
2006年
基于带隙基准的原理,采用0.6μm、N阱CMOS工艺,文章设计了一种工作在亚阈值区的用于锂离子和锂聚合物电池充电保护芯片的低功耗基准电路。Hspice仿真结果表明:基准电压为1.068V,电源电压由1.8V到8V变化,电路最大消耗电流小于0.15μA;温度由-40℃到80℃变化,其温度系数约为±10ppm/℃。整个充电保护芯片测试结果,其功耗小于0.6μW。
童志强邹雪城童乔凌
关键词：CMOS工艺低功耗带隙基准温度系数
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共1页<1>
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