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梁彬
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西安电子科技大学
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合作作者
焦帅
西安电子科技大学
祁林林
西安电子科技大学
戴显英
西安电子科技大学
郝跃
西安电子科技大学
盛喆
西安电子科技大学
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梁彬
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郝跃
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基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的AlN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Si的制作方法
本发明公开了一种基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的AlN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Si的制作方法,其实现步骤为:1.清洗AlN埋绝缘层SOI晶圆,并注入He离子;在离子注入后的SOI晶圆顶层上淀积‑1.2GPa以上的压应力Si...
戴显英
焦帅
郝跃
吴武健
苗东铭
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基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变GeOI的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变GeOI的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的GeOI晶圆顶层Ge层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层Ge层进行离子注入形成非晶化层,并去除非晶化层上的SiO...
苗东铭
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梁彬
焦帅
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基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变SiGe的制作方法
本发明公开了一种基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变SiGe的制作方法,其实现步骤为:对绝缘层上硅锗SGOI晶圆进行清洗,并进行He离子注入;在离子注入后的SGOI晶圆顶层SiGe层上淀积淀积‑1...
苗东铭
戴显英
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基于非晶化与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Ge的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Ge的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的SiN埋绝缘层上Ge晶圆顶层Ge层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层Ge层进行离子注入形成非晶化层,...
戴显英
祁林林
郝跃
底琳佳
苗东铭
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基于非晶化与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Si的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的SiN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Si的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的SiN埋绝缘层上Si晶圆顶层Si层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层Si层进行离子注入形成非晶化层,...
郝跃
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本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的AlN埋绝缘层上晶圆级单轴应变Si的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的AlN埋绝缘层上Si晶圆顶层Si层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层Si层进行离子注入形成非晶化层,...
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基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的晶圆级单轴应变SOI的制作方法
本发明公开了一种基于氮化硅应力薄膜与尺度效应的晶圆级单轴应变SOI的制作方法,其实现步骤为:1.对绝缘层上硅SOI晶圆进行清洗,并进行He离子注入;2.在离子注入后的SOI晶圆顶层Si层上淀积‑1GPa以上的压应力SiN...
戴显英
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蒲凯文
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基于非晶化与尺度效应的AlN埋绝缘层上晶圆级单轴应变SiGe的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的AlN埋绝缘层上晶圆级单轴应变SiGe的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的AlN埋绝缘层上SiGe晶圆顶层SiGe层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层SiGe层进行离子注...
过润秋
戴显英
冯兰胜
梁彬
盛喆
苗东铭
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基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变SGOI的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变SGOI的制作方法。其实现步骤是:在清洗后的SGOI晶圆顶层SiGe层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;对顶层SiGe层进行离子注入形成非晶化层,并去除非晶化层上...
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基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变SOI的制作方法
本发明公开了一种基于非晶化与尺度效应的晶圆级单轴应变SOI的制作方法。其实现步骤是:1)在清洗后的SOI晶圆顶层Si层上淀积SiO<Sub>2</Sub>层;2)对顶层Si层进行离子注入形成非晶化层,并去除非晶化层上的S...
戴显英
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