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DSP芯片出现失效时保护的汽车控制器及其控制方法: 本发明提供一种DSP芯片出现失效时保护的汽车控制器及其控制方法，该汽车控制器包括速度传感器等，微处理器模块与MOSFET驱动电路连接；电流电压温度检测电路、调速刹车信号控制器、速度检测电路、外看门狗电路、档位输入器都与微...; 朴美兰闵嘉华梁小燕杨柳青凌云鹏张继军王林军; 文献传递

DSP芯片出现失效时保护的汽车控制器及其控制方法: 本发明提供一种DSP芯片出现失效时保护的汽车控制器及其控制方法，该汽车控制器包括速度传感器等，微处理器模块与MOSFET驱动电路连接；电流电压温度检测电路、调速刹车信号控制器、速度检测电路、外看门狗电路、档位输入器都与微...; 朴美兰闵嘉华梁小燕杨柳青凌云鹏张继军王林军; 文献传递

溶剂熔区移动法生长Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te晶体的工艺优化研究: 2017年; 为了解决Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te(CZT)晶体生长温度高、单晶率低、成分不均匀等问题,采用溶剂熔区移动法(THM)在优化工艺参数下生长了掺In的CZT晶体,在优化晶体的生长温度、固液界面处的温度梯度、原位退火过程等生长条件后,生长出直径为45 mm的低Te夹杂浓度、高电阻率、高透过率、均匀的高质量CZT晶体。X射线衍射结果显示,晶体的结晶性较好、Zn成分轴向偏析小。红外透过光谱测试结果显示,晶体内部的杂质、缺陷水平相对较少,晶体整体的红外透过率在60%左右。紫外-可见光吸收光谱测试结果也进一步表明,晶体的均匀性良好。采用红外显微镜对晶体内部的Te夹杂形貌及其尺寸进行观察,结果表明Te夹杂的尺寸主要分布在0~10μm之间。采用直流稳态光电导技术测得电子的迁移率寿命积约为8×10^(-4) cm^2/V。; 凌云鹏闵嘉华梁小燕张继军杨柳青温旭亮张滢李明刘兆鑫王林军沈悦; 关键词：红外透过率

溶剂熔区移动法生长In∶Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te晶体的性能研究: 2016年; 采用溶剂熔区移动法生长出掺In的Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te晶体。测试了晶体轴向Zn含量分布,并对晶体的头部和中部进行了Te夹杂相、红外透过率、I-V特性曲线和PL谱图的对比测试。结果表明:头部晶体的Zn含量、红外透过率和电阻率均大于中部;而头部晶体的Te夹杂尺寸、杂质和缺陷含量均小于中部。; 段磊闵嘉华梁小燕张继军凌云鹏杨柳青邢晓兵王林军; 关键词：红外透过率光致发光

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凌云鹏