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宁红英

作品数:2 被引量:21H指数:2
供职机构:西安理工大学自动化与信息工程学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金陕西省科技攻关计划陕西省教育厅科研计划项目更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇短路
  • 1篇短路保护
  • 1篇短路测试
  • 1篇软开关
  • 1篇损耗
  • 1篇驱动保护
  • 1篇开关损耗
  • 1篇SIC
  • 1篇DI
  • 1篇DT
  • 1篇IGBT模块
  • 1篇MOSFET

机构

  • 2篇西安理工大学
  • 1篇西安思源学院

作者

  • 2篇杨媛
  • 2篇宁红英
  • 1篇孙旭霞
  • 1篇高勇
  • 1篇文阳

传媒

  • 2篇电工技术学报

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2015
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种基于di_C/dt反馈控制的大功率IGBT驱动保护方法被引量:17
2015年
针对大功率IGBT提出一种新型的有源门极驱动保护方法。在IGBT正常开通与关断过程中,利用di_c/dt反馈控制,设计软开通及软关断电路,有效缩短IGBT的开通与关断时间,提高IGBT的开关频率,减小器件功率损耗;在IGBT发生短路时,结合di_c/dt反馈技术,设计改进型有源钳位保护电路,实现IGBT软关断,防止关断时产生较大的过冲电压损坏IGBT,同时有效减小门极触发电阻R_g上的损耗。利用Saber软件进行电路仿真,并基于大功率IGBT模块YMIF1200-33实验平台,验证方案的可行性,结果表明,相对于传统控制方案,正常开关情况下,开通时间缩短了26.5%,关断时间缩短了52.6%;短路情况下,相对于传统有源钳位方法,改进方案在有效钳住V_(CE)电压的同时,关断期间门极电阻上的电流减小到原来的35.4%,并能在短路发生的第一时间迅速可靠地关断IGBT。
宁红英孙旭霞杨媛
关键词:IGBT模块驱动保护开关损耗软开关
SiC MOSFET短路保护技术综述被引量:4
2022年
随着电力电子技术的飞速发展,SiC MOSFET以优异的材料特性在高频、高压、高温电力电子应用中展现了显著的优势。然而,SiC MOSFET较高的开关速度与较弱的短路承受能力对短路保护技术带来了新的挑战。该文首先介绍SiC MOSFET不同短路类型以及短路测试方法;其次对SiC MOSFET短路失效模式及失效机理进行分析;然后详细梳理现有SiC MOSFET短路检测与短路关断技术的原理与优缺点,讨论现有SiC MOSFET短路保护技术在应用中存在的问题与挑战;最后对SiC MOSFET短路保护技术的发展趋势进行展望。
文阳杨媛宁红英张瑜高勇
关键词:短路测试短路保护
共1页<1>
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