方云
- 作品数：3 被引量：0H指数：0
- 供职机构：中国电子科技集团公司第三十八研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 一种通用数字插件的非原理性测试装置及其测试方法
- 本发明涉及通用数字插件的非原理性测试装置，包括布置在集成测试机柜内的测试控制计算机、功能测试分机以及边界扫描测试分机，三者的电源输入端均通过电源线接220V市电，测试控制计算机通过USB电缆与边界扫描测试分机连接，测试控...
- 方云沈光正曹俊锋李正东王凤驰
- 基于CPCI总线的数字板边扫设计
- 2015年
- 在数字化系统的发展中,先进FPGA和DSP等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的FPGA和DSP芯片,以及CPCI总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件Scanworks,并通过Scanworks进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该TPS能有效解决CPCI总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。
- 曹俊锋方云
- 关键词：可测试性CPCI总线
- 一种通用数字插件的非原理性测试装置及其测试方法
- 本发明涉及通用数字插件的非原理性测试装置，包括布置在集成测试机柜内的测试控制计算机、功能测试分机以及边界扫描测试分机，三者的电源输入端均通过电源线接220V市电，测试控制计算机通过USB电缆与边界扫描测试分机连接，测试控...
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- 文献传递
