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李红

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室更多>>
发文基金：国家自然科学基金广东省自然科学基金深圳市科技计划项目更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇矢量
  • 1篇漏电功耗
  • 1篇集成电路
  • 1篇功耗
  • 1篇测试矢量

机构

  • 1篇北京大学
  • 1篇西安飞行自动...

作者

  • 1篇崔小乐
  • 1篇程作霖
  • 1篇史新明
  • 1篇李红

传媒

  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2014
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
一种集成电路静态老化测试的输入矢量选取方法
2014年
在集成电路静态老化测试中,对被测电路持续施加特殊的固定测试矢量,使被测电路产生较大的漏电功耗,有利于其早期失效的发生,获得更好地老化效果.提出一种产生最大漏电功耗的测试矢量选取方法.在被测电路中设置合适的固定故障,通过ATPG方法获取较小的备选测试矢量集合.基于门电路的故障相关输入状态,设计了一种度量指标,可用于辅助在备选测试矢量集合中搜索目标矢量.该度量指标与电路漏电功耗总体上为正相关关系,可有效降低误选测试矢量的风险.
崔小乐李红史新明程作霖
关键词：测试矢量漏电功耗
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共1页<1>
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