您的位置： 专家智库 > >

魏建中

作品数：69 被引量：0H指数：0
供职机构：杭州士兰微电子股份有限公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信文化科学机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 68篇中文专利

领域

  • 9篇自动化与计算...
  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇文化科学

主题

  • 30篇测试装置
  • 22篇电路
  • 20篇信号
  • 13篇集成电路
  • 9篇多路
  • 9篇转台
  • 9篇测试机
  • 8篇电路测试
  • 8篇芯片
  • 8篇加速度
  • 8篇半导体
  • 7篇电流
  • 7篇多路选择开关
  • 7篇主处理器
  • 7篇转台系统
  • 7篇加速度计
  • 7篇感器
  • 7篇处理器
  • 7篇传感
  • 7篇传感器

机构

  • 68篇杭州士兰微电...

作者

  • 68篇魏建中
  • 24篇符强
  • 18篇潘子升
  • 16篇吴欢欢
  • 15篇蒋登峰
  • 12篇张波
  • 10篇王希清
  • 5篇何坤元
  • 2篇张明
  • 1篇邱学海
  • 1篇邓登峰

年份

  • 1篇2022
  • 1篇2021
  • 4篇2019
  • 1篇2018
  • 4篇2017
  • 14篇2016
  • 17篇2015
  • 7篇2014
  • 6篇2013
  • 9篇2012
  • 4篇2011
共 69 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
半导体功率器件热阻测试装置
本实用新型涉及一种半导体功率器件热阻测试装置，包括测试机及分别与测试机相连的温度控制箱和静态空气箱，温度控制箱内设有温控器和第一连接器，静态空气箱内设有第一温度探针、第二温度探针及第二连接器，所述测试机包括微处理器及分别...
符强殷资魏建中
文献传递
用于加速度计校准与测试的转台系统
公开了一种转台系统，用于加速度计的校准和测试，所述转台系统包括：主轴；主轴电机，用于产生主轴的转动；校准测试平台，所述校准测试平台固定于所述主轴上，用于为转动盘和转动盘电机提供固定平台；以及至少一个安装于所述校准测试平台...
吴欢欢符强蒋登峰魏建中
文献传递
耐负压噪声能力测试装置
本实用新型提供了一种耐负压噪声能力测试装置，通过负压噪声产生电路产生负压噪声信号并将所述负压噪声信号提供给所述被测电路，从而实现被测电路的耐负压噪声检测。特别的，所述负压噪声产生电路通过电感储能电路产生负压噪声信号，使得...
刘骑魏建中瞿琛何坤元傅宇航
文献传递
跌落测试装置
公开了一种跌落测试装置，包括：电路跌落单元，在跌落槽打开时，待测物体从跌落槽的开口跌落；电路回收桶单元，所述电路回收桶单元包括冲击介面、锥形扇面、以及电路导出管，其中锥形扇面具有与电路导出管连通的底端开口，所述冲击介面接...
吴欢欢符强魏建中
文献传递
数字测试图像生成装置
本实用新型公开了一种能有效解决图像模数和数模转换类芯片生产测试中的图像源问题，大幅降低图像源仪器的成本，且可支持多视频标准的数字测试图像生成装置，它包括：内含有硬件逻辑线路的FPGA，用于生成数字图像信号，所述数字图像信...
魏建中邓登峰
文献传递
一种烧录器
本实用新型提供了一种能够实现烧录电压修调功能的一种烧录器，该烧录器包括主控电路以及分别与主控电路连接的存储器、烧录电压修调输入模块和烧录电源控制电路，主控电路中还内嵌有用于将来自主控电路的数字信号转换为模拟信号的数模转换...
楼俊伟魏建中
文献传递
芯片温度与电流强度关联性的测试设备
本发明提供一种芯片温度(芯片表面温度)与电流强度关联性的测试设备，利用温度测量装置和电流测量装置，可以快速精确测得待测芯片温度与芯片的关键路径上的电流强度，而且待测芯片温度和芯片的电流强度的数值可以保存到该测试设备内部存...
潘子升宋斌俊魏建中
文献传递
跌落测试装置
公开了一种跌落测试装置，包括：电路跌落单元，在跌落槽打开时，待测物体从跌落槽的开口跌落；电路回收桶单元，所述电路回收桶单元包括冲击介面、锥形扇面、以及电路导出管，其中锥形扇面具有与电路导出管连通的底端开口，所述冲击介面接...
吴欢欢符强魏建中
文献传递
基于音频解码芯片输出音频质量的实时检测电路
本实用新型涉及一种基于音频解码芯片输出音频质量的实时检测电路，包括模数转换模块、预处理模块、主处理器模块和人机界面模块，模数转换模块、预处理模块、主处理器模块和人机界面模块顺次连接，模数转换模块的音频信号输入端与待测音频...
潘子升宋斌俊魏建中
文献传递
一种集成电路仿真测试向量信号产生装置
为实现数字集成电路在设计时就进行实际状态测试，而无需使用专门的测试机，本实用新型公开了一种集成电路仿真测试向量信号产生装置，它包括上位机、测试向量信号发生主板和PCI-E接口模块，所述测试向量信号发生主板包括FPGA，用...
张波蒋登峰魏建中
文献传递
全选 清除 导出
共7页<1234567>
聚类工具0