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胡幼华

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：上海市计算技术研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：理学电子电信更多>>

合作作者

题名
作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇科技成果

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 1篇射线
  • 1篇蒙特卡罗
  • 1篇蒙特卡罗法
  • 1篇膜厚
  • 1篇计算方法
  • 1篇厚度
  • 1篇薄膜厚度
  • 1篇X射线
  • 1篇MONTE_...
  • 1篇程序系统

机构

  • 2篇上海市计算技...
  • 1篇中国科学院

作者

  • 2篇胡幼华
  • 1篇王心磊
  • 1篇何延才

传媒

  • 1篇中国科学（A...

年份

  • 1篇1989
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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Monte Carlo方法计算多层薄膜中X射线发射强度被引量：1
1989年
基于作者发展的电子散射模型,多层介质中电子散射理论、X射线强度、吸收和荧光计算公式,用Monte Carlo方法计算了多层薄膜中X射线发射强度比值。在不同加速电压下,对Si衬底上Au,Cu多层膜及Cr,Ni多层膜计算的强度比与EPMA实验结果广泛一致。本工作为最终解决多层薄膜X射线定量显微分析的难题奠定了理论基础。
何延才胡幼华陈家光王心磊
关键词：X射线蒙特卡罗法
多层薄膜厚度的蒙特卡罗计算方法和软件
胡幼华
多层薄膜厚度测定是国际上电子束Ｘ射线显微定量分析中极待解决的难题。该项目用蒙特卡罗方法研究电子束入射到多层薄膜时电子散射和特征、Ｘ射线激薄等复杂的随机过程，解决了多层薄膜的电子束Ｘ射线显微定量分析中的一系列计算难题，提出...
关键词：
关键词：蒙特卡罗计算方法厚度程序系统
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