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文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 3篇隔离放大器
  • 3篇放大器
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  • 2篇抑制比
  • 2篇抗干扰
  • 2篇抗干扰能力
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  • 1篇同相
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  • 1篇集成电路测试...
  • 1篇隔离电压
  • 1篇测试程序

机构

  • 3篇中国电子科技...

作者

  • 3篇尚玉凤
  • 3篇李芳
  • 3篇李浪平
  • 2篇郑欣然
  • 1篇徐光钊

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2015
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种磁隔离放大器隔离抑制比的测试方法
本发明提供一种磁隔离放大器隔离抑制比的测试方法,包括以下顺序的步骤:在被测磁隔离放大器的输入端加载差分电压信号<Image file="2014106195022100004DEST_PATH_IMAGE002.GIF"...
尚玉凤李浪平李芳郑欣然
文献传递
一种磁隔离放大器隔离抑制比的测试方法
本发明提供一种磁隔离放大器隔离抑制比的测试方法,包括以下顺序的步骤:在被测磁隔离放大器的输入端加载差分电压信号<Image file="DEST_PATH_IMAGE002.GIF" he="30" imgContent...
尚玉凤李浪平李芳郑欣然
文献传递
一种磁隔离放大器输入电流的测试方法
本发明提供一种磁隔离放大器运放输入电流的测试方法,包括以下步骤:选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板;利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放端口对应连接;利用集成电路测...
尚玉凤李浪平李芳徐光钊
文献传递
共1页<1>
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