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瞿发俊

作品数:2 被引量:0H指数:0
供职机构:苏州大学物理科学与技术学院(能源学院)物理学系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:理学一般工业技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇溅射
  • 1篇带隙
  • 1篇射频磁控
  • 1篇射频磁控溅射
  • 1篇碳化硅
  • 1篇碳化硅薄膜
  • 1篇溅射制备
  • 1篇光学
  • 1篇光学带隙
  • 1篇光致
  • 1篇光致发光
  • 1篇硅薄膜
  • 1篇发光
  • 1篇非晶
  • 1篇PL
  • 1篇SIC
  • 1篇XN
  • 1篇磁控
  • 1篇磁控溅射

机构

  • 2篇苏州大学

作者

  • 2篇吴雪梅
  • 2篇瞿发俊
  • 1篇诸葛兰剑
  • 1篇徐华

传媒

  • 1篇功能材料
  • 1篇2004年中...

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2004
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
射频磁控溅射SiC晶体制备碳化硅薄膜的研究
碳化硅(SiC)作为一种宽带隙半导体材料,是继Si,Ge和GaAs后的第三代电子材料的典型代表,它具有优良的热稳定性和化学稳定性、较大热导率、高电子迁移率、高电子饱和漂移速度、高击穿场强、低介电常数等优点,近年来,SiC...
瞿发俊吴雪梅诸葛兰剑
关键词:射频磁控溅射
文献传递
双离子束溅射制备非晶SiO_xN_y薄膜的强黄光发射(英文)
2006年
用双离子束溅射法制备了SiOxNy薄膜,并对薄膜的结构和光致发光(PL)性质进行了研究。XRD和TEM的实验结果表明薄膜是非晶结构;用XPS对样品进行了表征,在397.8eV位置处出现一个对应于N1s的对称峰,表明样品中的N原子主要与Si原子结合,FTIR的实验结果也说明了这一点。光吸收测量结果显示SiOxNy薄膜的光学带隙比Si—SiO2薄膜宽。在225nm波长的激发下,测得在590nm处有强的黄光发射,并利用能带模型讨论了可能的发光机制。
瞿发俊徐华吴雪梅诸葛兰剑
关键词:光学带隙
共1页<1>
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