陈赤
- 作品数：48 被引量：40H指数：3
- 供职机构：中国计量科学研究院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家科技支撑计划中央级公益性科研院所基本科研业务费专项更多>>
- 相关领域：机械工程理学电子电信一般工业技术更多>>
- 数字电视的光色计量及其计量装置
- 数字电视日益成为电视的测试中包含许多光色计量参数，而数字电视的成像显示技术已发展为多种类型。本文将结合市面上主流的CRT、LCD、PDP、等常见数字电视技术的显示原理以及特性，具体讲解光色计量指标测量方法及原理，通过集中...
- 徐英莹陈赤王捷殷玉喆
- 关键词：阴极射线管液晶显示数字电视
- 文献传递
- 同步辐射在计量学中的应用研究被引量：4
- 2005年
- 本文介绍了世界上利用同步辐射建立辐射计量标准的现状,对利用同步辐射建立真空紫外———软X射线波段的光源标准和探测器标准的原理方法进行了论述,并介绍了我们在这方面的工作和取得的阶段性成果。
- 刘金元熊利民李平薛凤仪杨永刚李大欣陈赤崔明启赵屹东郑雷朱杰周洪军霍同林
- 关键词：氘灯气体电离室真空紫外软X射线量子效率
- 用等离子体辐射源建立200～350nm光谱辐亮度副基准被引量：1
- 1994年
- 本文介绍了工作在１．０×１０Ｐａ气压下的氩弧等离子体辐射源的结构；局部热力学平衡条件的判断；温度诊断的几种方法及作为２００～３５０ｎｍ光谱辐亮度副基准的原理和实验装置、传递标准氘灯灯组，最后进行的误差分析表明总不确度为１３％。
- 薛凤仪于家琳陈赤杨永刚李大欣
- 关键词：副基准
- 彩色分析仪测量校准及误差分析被引量：1
- 2011年
- 本文对彩色分析仪进行研究，介绍了其测量原理和校准方法。根据实验洲量结果，计算其存不同条件下产生的测量不确定度，并给出不确定度概算结果，使彩色分析仪能准确有效地检定液晶显示器（LCD）。
- 张静刘文德樊其明陈赤
- 关键词：校准不确定度
- 实时椭偏术及其在薄膜生长过程中的应用
- 基于旋转器件的多通道椭偏仪的设计使得它们可以用于诸如原位、实时等薄膜以及表面的分析。利用叠加光源组合可将光谱上限扩展至6.5 eV的远紫外波段。双旋转补偿器椭偏仪改变了入射以及反射光的偏振态，不仅可以得到传统椭偏角(ψ，...
- 陈赤刘文德巩岩张巍
- 关键词：薄膜生长表面粗糙度偏振态
- 文献传递
- 相调制光谱椭偏仪的校准研究
- 当前，在表征薄膜厚度、光学常数等常规测试，以及对薄膜材料的光学响应特性的研究等领域，光谱椭偏仪的应用相当普遍；在以平板显示器为代表的薄膜显示器件、半导体微电子等光电子行业，椭偏仪检测早已成为常规产品检验工序。椭偏仪经过了...
- 刘文德陈赤
- 关键词：校准
- 阿伏加德罗常数项目中的硅球表面层测量新进展
- 本文介绍了国际阿伏加德罗常数项目最新进展以及中国计量科学研究院在该研究领域所取得的最新成果。对目前阿伏加德罗常数研究所遇到的主要问题，即硅球表面层结构状态研究进行了分析、展望，提出了今后研究的方向和预期效果。
- 陈赤刘文德罗志勇
- 关键词：阿伏加德罗常数测量不确定度
- 合肥800MeV同步辐射源光谱功率分布的计算
- 1999年
- 依据Ｓｃｈｗｉｎｇｅｒ理论计算公式，对合肥８００ＭｅＶ电子储存环同步辐射的光谱功率特性进行了理论计算，并讨论了储存环基本参数的测量误差及其对光谱功率分布的影响，由此产生的不确定度将对今后建立基标准有直接的影响。
- 丘伟陈赤
- 关键词：电子储存环功率分布
- 玻璃基底和粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响
- 在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给椭偏测量造成较大影响,针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算,讨论了玻璃基底中非相干背反射以及薄膜界面层、表面粗糙度对模型拟合度的影响,给出了玻璃基底以及薄膜...
- 刘文德陈赤樊其明徐英莹张静
- 关键词：粗糙度背反射氮化硅薄膜
- 文献传递
- 硅球密度绝对测量被引量：3
- 2012年
- 单晶硅球密度的绝对测量是阿伏加德罗常数测量的关键技术,是目前国际热点研究领域.本文综述了包括我国在内的国际单晶硅球密度测量的最新进展,涉及硅球密度测量的技术原理、测量领域、影响因素、测量装置及最佳测量能力等,分析了硅球密度测量的主要难点和关键技术,预测了相关研究的技术前景及发展趋势.
- 罗志勇赵克功张继涛陈赤
- 关键词：阿伏加德罗常数氧化层厚度
