施明亮
- 作品数：11 被引量：19H指数：3
- 供职机构：中国核工业集团公司核工业西南物理研究院更多>>
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- 相关领域：核科学技术理学电子电信更多>>
- 用光电探测器测量核聚变装置等离子体辐射损失功率
- 2000年
- 本文叙述了使用十六道光电二极管测量系统，对中国环流器新一号核聚 变装置等离子体辐射损失功率的测量结果。主要实验结果如下：（1）电子回旋波（ECW）波注入，辐射损失功率随时间的变化。（2）弹丸注入等离子体后辐射功率密度增加了1．5倍。（3）超声分子束注入到等离子体后，辐射功率密度增加了30％。
- 施明亮潘宇东等
- 关键词：光电探测器等离子体核聚变装置弹丸注入超声分子束注入
- HL－1装置等离子体辐射损失实验研究
- 1995年
- 本文叙述了在器壁碳化、抽气孔栏、偏压电极、送杂质气体、ＥＣＲＨ加热和弹丸注入等实验条件下用多道辐射热探测器（Ｂｏｌｏｍｅｔｅｒ）阵列测得的ＨＬ－１等离子体辐射损失，并给出了辐射损失的时空分布图。
- 施明亮邓慧忱傅博熊铁军杨鸿儒郑永真
- 关键词：等离子体托卡马克
- HL-1装置电流上升段辐射与杂质特性
- 1989年
- 托卡马克等离子体中的杂质会影响托卡马克的放电品质及等离子体特性。许多理论和实验对杂质的产生和输运做了深入详细的研究。等离子体电流起始阶段,由于约束性能不好,会引起大量的杂质产生,辐射损失增大是杂质增加引起的直接后果。杂质辐射是等离子体辐射的主要组成部分之一,等离子体线辐射功率～Zeff6,复合辐射功率～Zeff4。
- 杨青巍李可华施明亮郑永真秦运文
- 关键词：电流HL-1装置等离子体
- 壁涂覆后和LHCD期间HL-1M装置辐射损失测量
- 1998年
- 本文叙述了第一壁涂覆（硼化、硅化和锂化）和低杂波电流驱动（ＬＨＣＤ）对ＨＬ－１Ｍ装置等离子体辐射损失的影响。测量结果表明，第一壁经硼化、硅化和锂化处理后，等离子体辐射损失明显减少，说明壁处理技术对减少等离子体中杂质辐射有显著作用。本文还初步分析了注入低杂波（ＬＨＷ）期间等离子体辐射损失功率下降或上升的原因，为研究等离子体性能提供了实验数据。
- 施明亮潘宇东董贾福王恩耀王瑞荣陈燎原王全明
- 关键词：硼化硅化LHCD托卡马克
- 聚变等离子体加料的新方法: 超声束流注入被引量：5
- 1998年
- 脉冲超声分子束注入，是一种新的托卡马克加料方式，其性能介于喷气和弹丸注入之间。氢分子束的速度可超过５００ｍ·ｓ－１，注入深度１０ｃｍ以上。ｄｎｅ／ｄｔ＝２．９×１０２０ｍ－３ｓ－１。最高电子密度达到ｎｅ＝８×１０１９ｍ－３，而杂质浓度相对下降。电子密度峰化因子Ｑｎ上升至１．６５。能量约束可在长时间（ｔ＝３５０－４００ｍｓ）内获得改善，电子温度呈中空分布。与常规喷气加料相比，能量约束时间增加１０％－３０％。
- 姚良骅唐年益丁玄同董贾福李可华施明亮傅荟文洪文玉崔正英刘德权冉利波王恩耀
- 关键词：超声分子束等离子体
- 核聚变装置辐射功率密度时空分布测量
- 本文对HL-1M托卡马克装置注入氢分子束,然后注入氢弹丸,最后注入电子回旋波加热等离子体的辐射功率密度时空分布特性做了分析.主要实验结果有氢分子束和氢弹丸等离子体辐射功率密度时空分布是不对称的,分子束和氢弹丸注入将增加等...
- 施明亮潘宇东A.G.Alekseyev
- 关键词：核聚变装置光电探测器
- 文献传递
- 核聚变装置辐射功率密度时空分布测量
- 2002年
- 本文对HL-1M托卡马克装置注入氢分子束，然后注入氢弹丸，最后注入电子回旋波加热等离子体的辐射功率密度时空分布特性做了分析。主要实验结果有氢分子束和氢弹丸等离子体辐射功率密度时空分布是不对称的，分子束和氢弹丸注入将增加等离子体中心区域辐射功率密度，电子回旋波的注入等离子体辐射功率密度时空分子基本对称。
- 潘宇东A.G.Alekseyev施明亮
- 关键词：核聚变装置HL-1M托卡马克装置等离子体测量电子回旋波
- 非对称Abel逆变换研究及其在等离子体辐射功率分析中的应用被引量：10
- 1992年
- 一、引言 在实验等离子体物理中,常遇到测量量是待求物理量沿等离子体截面弦的线积分值,为待求量,L为弦长。从测量到的I(x)值,求出i r值的Abel逆变换,在等离子体诊断的数据处理中得到了广泛应用。 在假定等离子体截面为中心对称的前提条件下。
- 邓慧忱施明亮
- 关键词：等离子体功率
- HL-1M装置等离子体的MARFE现象
- 2001年
- 在HL-1M装置上用分子束注入等离子体的气体加料方法提高了等离子体的电子密度。当线平均电子密度从 4× 10 13cm-3 上升到 7× 10 13cm-3 时 ,利用多道辐射损失测量系统测量到来自等离子体边缘的非对称辐射现象。在强场侧等离子体辐射损失功率密度大大高于弱场侧而线平均电子密度、OⅥ杂质谱线和Hα
- 施明亮潘宇东姚良骅邓中朝罗俊林王全明
- 关键词：托卡马克MARFEHL-1M装置等离子体电子密度
- HL-1M装置在NBI期间注入H弹丸和Al杂质的辐射损失特性被引量：1
- 2000年
- 使用十六道探测器阵列在HL1M装置上对中性束加热等离子体中注入氢丸和铝杂质的辐射损失功率进行了测量。通过对测量数据的分析,获得了以下主要实验结果:(1)中性束加热等离子体辐射损失功率密度分布在等离子体小半径(35)a范围内较平坦,辐射功率密度为0.1W·cm-3左右;(2)在中性束加热期间,用激光吹气注入铝杂质,辐射损失功率密度增加了1倍,但它的分布不明显峰化;(3)注入的氢丸使等离子体辐射损失功率密度增加了2倍多,且辐射损失功率密度分布显著峰化。
- 施明亮潘宇东董贾福王恩耀
- 关键词：等离子体HL-1M装置
