张双悦
- 作品数：7 被引量：9H指数：1
- 供职机构：清华大学更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程更多>>
- FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究被引量：1
- 2014年
- 基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。
- 张双悦李硕王红杨士元
- 一种面向应用的FPGA组合电路测试生成算法
- 应用的FPGA测试方法仅针对影响FPGA特定用户功能电路正常运行的故障进行测试,由于FPGA采用LUT元件为基本单元的电路实现方式与ASIC电路存在一定差异,因此无法直接应用传统ATPG工具对其中的用户功能电路进行测试生...
- 张双悦王红杨士元苗巍
- 关键词：可编程门阵列组合逻辑电路
- 一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法
- 本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查...
- 张双悦王红杨士元苗巍
- 文献传递
- FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
- 基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求.传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要...
- 张双悦李硕王红杨士元
- 关键词：链结构查找表
- 文献传递
- 一种FPGA综合过程中的测试向量生成与可测性设计方法
- 现场可编程门阵列（FPGA）目前广泛应用于各领域的数字电路系统中。其实现方式与设计流程在带来高度灵活的可配置性的同时，也使得目前相对成熟的固定型数字电路测试方法不能很好地解决FPGA芯片的测试问题。SRAM型FPGA芯片...
- 张双悦
- 关键词：现场可编程门阵列内建自测试测试向量生成可测性设计
- 文献传递
- IEC61850服务映射中的矛盾及一种解决方案被引量：8
- 2013年
- IEC61850是数字化变电站网络建设中的一个重要标准,其抽象通信(ACSI)模型在具体实现中主要被映射为制造报文规范(MMS)。但该映射关系并非一一对应,在此之中存在着一些偏差甚至矛盾。在IEC61850的实现中,设备数据结构、目录服务和值读取服务属于基础部分,并且矛盾比较集中和突出。对这三方面在映射过程中出现的偏差和矛盾进行剖析后,提出一种解决方案,该方案以IEC61850数据结构和服务功能为基本出发点,满足MMS的相关要求并尽可能降低通信中的误解和资源浪费。
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- 关键词：IEC61850抽象通信服务接口制造报文规范通信变电站
- 一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法
- 本发明涉及一种现场可编程门阵列芯片应用电路的测试方法，属于电路设计技术领域。对于电路中的两个直接相连的查找表单元，若两个查找表单元满足特定的条件，则可以在保证电路逻辑功能正确的情况下，对前查找表单元添加后向冗余线或对后查...
- 张双悦王红杨士元苗巍
