吴非
- 作品数：21 被引量：21H指数：2
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- 相关领域：理学一般工业技术电气工程金属学及工艺更多>>
- Y＃-[2]O＃-[3]-SrO-CuO三元相图
- 吴非解思深陈战
- 关键词：相图晶胞
- 铁电体/高温超导体集成薄膜的制备与性质
- 1996年
- 高温超导体的载流子浓度比常规超导体的低(对YBa_2Cu_3Q_(7-6)而言,n≌5×10^(21/cm^3)其载流子间的Coulomb屏蔽长度大,因而高温超导体中的载流子浓度易受外加电场的影响,或者说,能够由外场来调制.1991年,文献[1～3]研究了以SrTiO_3为门电极的金属-绝缘体-半导体(metal-insulator-semiconductor,MIS)型的三端器件(three terminal devices),即超导场效应晶体管(superconducing field-effect transistor,SuFET).但实际的增益只达到0.9.通过采用高介电系数的门电极可以对这种超寻场效应晶体管加以改进.
- 曹立新徐阳赵柏儒许波吴非李林赵忠贤
- 关键词：超导体铁电体高TC
- 偏硼酸钡低温相晶体在高压下的电学性质与相变
- 1997年
- 在金刚石压砧装置上，采用电容和电阻测量方法研究了偏硼酸钡低温相晶体（β－ＢａＢ２Ｏ４）在室温下和１６ＧＰａ内的电容、电阻与压力的关系。实验结果表明，它的电容在２．１、４．６、６．４、８、９．５、１０．７ＧＰａ左右都有一个突变。这说明β－ＢａＢ２Ｏ４内部的结构状态在这些压力下都发生了变化，可能发生了相变。还发现β－ＢａＢ２Ｏ４样品在较高压力下已发生了非晶化转变，而且是不可逆的，在卸压后被保留下来。
- 鲍忠兴柳翠霞黄朝恩刘有臣陈红吴非
- 关键词：电学性质相变电容测量BBO晶体
- 研磨对Y-123和Bi(Pb)-2223超导相的影响被引量：1
- 1993年
- 通过X射线衍射、差热分析、电子显微镜、超导电性测量等手段研究了研磨对Y-123和Bi(Ph)-2223超导相和成相过程的影响。结果表明:研磨对Y-123和Bi(Ph)-2223超导相的影响显著不同,研磨导制了Bi(Ph)-2223超导相的破坏。同时指出Bi(Ph)-2223超导相同一结构特征的两种属性:好的可塑性和结构易破坏性。前者是优点,后者是缺点。在加工、测量、使用过程中,要尽力避免后一缺点带来的超导电性的破坏或由于局部结构破坏而导致的整体性能的降低。
- 车广灿吴非董成李华尹渤贾顺莲周玉清杨晔熊季午赵忠贤
- 关键词：超导体研磨超导相镱铋
- SrO-CaO,SrO-CuO,CaO-CuO二元相图热力学处理及SrO-CaO-CuO三元相图
- 梁敬魁陈战吴非
- 关键词：相图晶胞
- X射线衍射测量Si_3N_4－4Cr10Si2Mo连接残余应力
- 1996年
- Ｘ射线衍射测量Ｓｉ_３Ｎ_４－４Ｃｒ１０Ｓｉ２Ｍｏ连接残余应力孙序，楚建新，林晨光，叶军（北京有色金属研究总院１０００８８）陈红，董成，吴非（中国科学院物理研究所）由于陶瓷和金属的物理、化学性能相差较大，特别是热膨胀系数的不匹配，在陶瓷与金属连接过程中...
- 孙序楚建新林晨光叶军陈红董成吴非
- 关键词：陶瓷金属残余应力X射线衍射
- 氧掺杂引起的T′相铜氧化合物低温磁性反常
- 1998年
- 采用高压合成的方法对 (Eu1-xYx) 2 CuO4 和Sm2 CuO4 样品进行了氧掺杂 ,并发现了一个位于 2 9K附近新的低温磁性反常 .分析表明该反常也是铜原子磁矩的贡献 ,但有着和T′相化合物弱铁磁不同的形成机理 ,它的出现对应着由掺杂到CuO2 面上的空穴产生的铁磁性团簇 .这一结果还揭示了T′相化合物区别于p型超导材料的一个独特性质 ,即没有顶点氧存在的T′相化合物的CuO2 面只能接受极微量的空穴 ,一旦达到极限 ,不管有多少氧掺杂进物相 ,都不能在CuO2
- 熊玉峰金铎姚玉书吴非贾顺莲郭树权赵忠贤
- 关键词：铜氧化合物超导体掺杂磁性
- 超声分解法制备Fe－Cr合金纳米微粒的研究被引量：13
- 1995年
- 用超声分解法制备了Ｆｅ－Ｃｒ合金纳米微粒，检查了粉末的结构、形态并测量了不同温度处理后的磁性。
- 林金谷魏狱年邹炳锁汪力王玥菊王华韦孙克陈红吴非
- 关键词：纳米微粒磁性铁铬合金
- SrCuO_2晶体生长与晶体形貌
- 1995年
- 从加热Ｓｒｏ和Ｃｕｏ粉末混合物到１１２０℃形成的液体中生长晶体，观察到长度达３ｍｍ的柱状晶体，电子探针分析表明接近ＳｒＣｕＯ２的晶体成份，其Ｘ射线粉末衍射谱可指标化为正交晶胞。
- 臧竞存傅凤枝刘燕行张冠东吴非
- 关键词：晶体生长超导体SCO晶体形貌
- 陶瓷-金属连接残余应力X射线衍射测试方法被引量：3
- 1997年
- 用大功率的MXP18-HFX射线衍射仪测量了金属与陶瓷连接处的残余应力分布.实验表明,该衍射仪X射线强度高,光斑细,适用于材料残余应力分布的精确测量.通过用它对金属-陶瓷界面应力梯度的测量,为残余应力的缓解提供了依据.
- 陈红董成吴非赵忠贤孙序
- 关键词：X射线衍射残余应力金属陶瓷
