舒文丽
- 作品数：6 被引量：46H指数：3
- 供职机构：四川电力建设二公司更多>>
- 发文基金：四川省应用基础研究计划项目更多>>
- 相关领域：电子电信建筑科学自动化与计算机技术更多>>
- NAND Flash存储的坏块管理方法被引量：20
- 2011年
- 针对NAND Flash海量存储时对数据可靠性的要求,提出了一种基于在FPGA内部建立RAM存储有效块地址的坏块管理方法。在海量数据存储系统中,通过调用检测有效块地址函数确定下一个有效块地址并存入建好的寄存器中,对NANDFlash进行操作时,不断更新和读取寄存器的内容,这样就可以实现坏块的管理。实验证明,本方法可以大大减小所需寄存器的大小并节省了FPGA资源,经过对坏块的管理,可以使数据存储的可靠性有很大的提升。
- 舒文丽吴云峰赵启义孙长胜
- 关键词：NANDFLASHFAT文件系统
- 基于NAND Flash的海量存储器的设计被引量：18
- 2012年
- 针对存储系统中对存储容量和存储带宽的要求不断提高,设计了一款高性能的超大容量数据存储器。该存储器采用NAND Flash作为存储介质,单板载有144片芯片,分为3组,每组48片,降低了单片的存储速度,实现了576 Gbyte的海量存储。设计采用FPGA进行多片NAND Flash芯片并行读写来提高读写带宽,使得大容量高带宽的存储器得以实现。针对NAND Flash存在坏块的缺点,提出了相应的管理方法,保证了数据的可靠性。
- 舒文丽吴云峰孙长胜吴华君唐斌
- 关键词：NANDFLASH海量存储
- 高速海量图像数据存储的可靠性研究
- 随着现代科学技术的发展，仪器和数据采集设备的精度越来越高，这对海量数据存储系统提出了更高的要求。大量数据高速存储的同时，必须保证数据的安全性，否则存储系统就失去了原来的作用。本文主要设计了一种基于NAND Flash的高...
- 舒文丽
- 关键词：可靠性评估安全性能
- 文献传递
- 氮气退火对NiO/ZnO:Al薄膜PN结的影响被引量：5
- 2012年
- 利用磁控溅射法,在ITO玻璃基底上沉积NiO薄膜和ZnO:Al(Al掺杂的ZnO或AZO)薄膜,制备具有半导体特性的NiO/ZnO:Al透明异质结二极管。使用UV-1700型分光光度计、KEITHLEY4200-SCS半导体测试仪、JSM-6490LV型扫描电子显微镜等分析氮气退火对NiO/ZnO:Al薄膜性能的影响。实验结果表明:500℃退火范围内,NiO薄膜的透过率随退火温度的升高单调上升,500℃时透过率在80%以上,NiO/ZnO:Al薄膜的透过率明显提高;在400℃时,NiO/ZnO:Al薄膜整流特性最佳。
- 赵启义祁康成舒文丽李国栋
- 关键词：磁控溅射ZNO:AL薄膜
- 探讨工程项目施工过程中影响工程结算的问题被引量：3
- 2014年
- 工程结算是一个系统的工程,在实际工作过程中受到各种因素的影响和制约。针对这些影响因素本文提出相应的政策建议,进而为工程项目施工过程中的工程结算提供参考依据。
- 舒文丽
- 关键词：工程造价施工管理
- 浅析工程变更原因及措施被引量：2
- 2014年
- 对于工程项目来说,在施工过程中,普遍存在着工程变更的现象。工程质量、进度、投资、结算等直接受到工程变更的影响和制约,尤其工程项目的造价最为突出。所以,本文通过对工程变更的原因进行分析,同时提出相应的政策建议,在一定程度上为工程项目管理提供参考依据。
- 舒文丽
- 关键词：企业管理
