王瑜
- 作品数：3 被引量：6H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 集成电路闩锁效应测试被引量：3
- 2007年
- CMOS制程是现今集成电路产品所采用的主流制程。闩锁效应(Latch-up)是指CMOS器件中寄生硅控整流器(SCR)被触发导通后,所引发的正反馈过电流现象。过电流的持续增加将使集成电路产品烧毁。闩锁效应已成为CMOS集成电路在实际应用中主要失效的原因之一。在国际上,EIA/JEDEC协会在1997年也制订出了半静态的闩锁效应测量标准,但只作为草案,并没有正式作为标准公布。我们国家在这方面还没有一个统一的测量标准,大家都是在JEDEC标准的指导下进行测量。文章针对目前国际上通行的闩锁效应测试方法作一个简要的介绍和研究。
- 陆坚王瑜
- 关键词：触发
- I/V特性扫描在静电放电试验中的应用被引量：1
- 2014年
- 随着超大规模集成电路工艺的高速发展,特征尺寸越来越小,而静电放电(Electrostatic Discharge)对器件可靠性的危害变得越来越显著。因此,静电放电测试已经成为对器件可靠性评估的一个重要项目。I/V特性扫描是静电放电试验中必不可少的一环。文章介绍了I/V特性扫描的目的、波形、程序、扫描过程中遇到的问题和应用。
- 王瑜卢礼兵姜汝栋
- 关键词：I静电放电
- 二次筛选生产过程中的质量控制被引量：2
- 2016年
- 二次筛选不同于一次筛选,是使用方根据特定要求参考有关标准,结合项目的需要进行的筛选。对于进口器件,有关标准的选择尤为重要。随意加严条件的过度筛选不但起不到甄别产品的作用,还会带来其他不良后果,因此,二次筛选的条件把关、过程控制至关重要。二次筛选是电子元器件在装机使用前可靠性的重要保障过程,文章叙述了电子元器件二次筛选的基本概念,重点对二次筛选过程中的条件确认、筛选工序(老炼和电参数测试)及管理方面进行了阐述。
- 王瑜
- 关键词：电子元器件
