赵明山
- 作品数:39 被引量:71H指数:4
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- 相关领域:理学机械工程电子电信自然科学总论更多>>
- 平板剪切干涉法检验激光准直性的改进被引量:3
- 1991年
- 本文提出了利用平板剪切干涉法检验激光束准直性的一种改进方案。以两组干涉条纹的平行作为准直性判据,既简化了检测过程,又可使检验灵敏度提高一倍。
- 赵明山李国华张敬斌
- 关键词:激光校准剪切干涉
- C_(60)分子电子能级结构的溶剂效应与本征HOMO—LUMO能隙被引量:4
- 1999年
- 利用吸收光谱和三阶微商吸收光谱,系统地分析了各种不同的非极性有机溶液中C60分子的吸收跃迁光谱结构,定量给出了不同溶剂对C60分子在紫外-可见区范围内各主要光学跃迁能量及HOMO—LUMO能隙的影响.根据C60分子电子能级结构参数随不同溶剂的变化特征,在线性近似下获得了孤立C60分子的本征电子能级参数和HOMO—LUMO能隙。
- 赵明山代作晓周军李国华
- 关键词:溶剂效应
- 二次离焦法精确测量透镜焦距
- 1992年
- 本文基于激光平行平板剪切干涉技术,提出了一种测量焦距的新方法——二次离焦法,该方法根据待测透镜两不同离焦状态对应的干涉条纹的宽度,直接确定焦距的大小。具有装置简单、测量方便和精度高等优点。
- 赵明山李国华
- 关键词:平行平板剪切干涉焦距透镜
- 双反射偏光分束棱镜被引量:4
- 1992年
- 利用单轴晶体的双反射效应,介绍两种新型复式偏光分束棱镜。给出的理论分析和实验测量均表明,该类棱镜具有良好的偏光分束性能。
- 李国华赵明山吴福全
- 关键词:偏振
- 自参考平板剪切干涉技术的研究
- 1993年
- 平板剪切干涉技术是目前光学检测,测量及像质检验等领域中常用的干涉技术。现行的平板剪切干涉装置有两种形式:一是平行平板剪切干涉,另一类是楔形平板剪切干涉。前者利用无限宽条纹判定光束的准直性,精度受光束直径的限制较大;
- 赵明山李国华张敬斌
- 关键词:剪切干涉光学检测平行平板
- 全内腔式He-Ne激光器光束偏振特性的改善
- 1993年
- 全内腔式激光器是He-Ne激光器的一种典型结构。由于其结构简单,使用方便,稳定性好和价格便宜等优点,深受人们的重视,并在许多领域获得了广泛的应用。然而,该激光器输出通常为部分偏振光,其光束振动的矢量在空间随时间变化且呈现明显的不对称性,通过偏振器件后难以获得稳定的偏振光。
- 赵明山张敬斌李国华
- 关键词:偏振特性全内腔部分偏振光
- 空气隙型偏光棱镜干涉现象的研究被引量:3
- 1992年
- 对空气隙型偏光镜中存在的干涉现象进行了实验研究和理论分析,得出了干涉条纹宽度、干涉深度与棱镜结构参数及入射角之间的定量关系,在此基础上提出了消除干涉影响的具体方案,取得了满意的结果.
- 赵明山李国华于德洪吴福全
- 关键词:偏光镜
- GaAs/AlGaAs多量子阱材料差分反射光谱
- 2000年
- 介绍了一种新型的空间调制光谱技术—差分反射 ( DR)光谱技术 .利用振动光束差分反射测试系统 ,获得了 Ga As/Al Ga As多量子阱材料的 DR谱 ,初步分析了 DR信号的产生机制 .通过与材料的 PR谱及反射光谱的一阶微商谱比较分析 ,论证了 DR光谱技术用于多量子阱量子化跃迁观测的理论可行性 ,并从实验角度证明了 Ga As/Al Ga As多量子阱材料的
- 代作晓陆书龙赵明山李国华
- 关键词:多量子阱GAAS/ALGAAS
- 激光剪切干涉技术用于焦距测量的研究
- 1993年
- 应用楔形平板剪切干涉技术,根据非定焦状态下干涉条纹的取向变化确定待测焦距,具有装置简单、测量方便、精度高等优点,并可用于不可见光区的测量。
- 赵明山李国华
- 关键词:剪切干涉焦距激光干涉仪
- 光轴任意取向单轴晶体斜入射工作状态的两个实验问题
- 1996年
- 对于单轴晶体的斜入射 ,因为o、e光光线的折射角不同 ,o、e光光线主截面自相互垂直相交状态有一偏离 ,它直接导致o、e光光线的偏振方向不互相垂直 ;另外因为e光波矢与光线矢方向的不一致 ,使得折射e光线并不总是在入射面内传播 ,而是向入射面外有所偏离 .本文以冰洲石晶体为例 ,计算和测量了光轴任意取向斜入时的o、e光偏振方向的夹角 ;又以一些常见单轴晶体为例 。
- 李艺周军宋连科赵明山吴福全
- 关键词:单轴晶体晶体