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付一伟

作品数：9 被引量：0H指数：0
供职机构：华为技术有限公司更多>>
相关领域：文化科学更多>>

合作作者

文献类型

  • 9篇中文专利

领域

  • 1篇文化科学

主题

  • 7篇电路
  • 6篇仿真
  • 4篇电压
  • 4篇仿真方法
  • 3篇发热
  • 3篇自发热
  • 2篇电压调整
  • 2篇电压转换
  • 2篇调整方法
  • 2篇预设
  • 2篇时延
  • 2篇数字电路
  • 2篇状态信息
  • 2篇温度
  • 2篇芯片
  • 2篇晶体管
  • 2篇静态时序分析
  • 2篇集成电路
  • 2篇工作电压
  • 1篇电路可靠性

机构

  • 9篇华为技术有限...

作者

  • 9篇付一伟
  • 7篇孙永生
  • 5篇郭建平
  • 4篇湛灿辉
  • 2篇王新入

年份

  • 1篇2021
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 2篇2014
  • 1篇2013
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
自适应电压调整方法、芯片以及系统
本发明实施例提供一种自适应电压调整方法、芯片以及系统，该方法包括：在第一电压调整时间，获取芯片中与老化效应相关的状态参数，所述第一电压调整时间为所述芯片设置的多个电压调整时间中的一个；根据所述状态参数，确定与所述第一电压...
郭建平王新入付一伟
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检查电路中电迁移的方法和装置
本发明实施例提供一种检查电路中电迁移的方法和装置，该电路包括鳍式场效晶体管，该鳍式场效晶体管与金属互连线连接，该方法包括：确定该鳍式场效晶体管的自发热温度；根据该鳍式场效晶体管的自发热温度，确定该金属互连线的电流密度约束...
孙永生付一伟郭建平
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数字电路老化仿真方法及装置
本申请公开了一种数字电路老化仿真方法及装置，属于电子技术领域。该方法包括：对于数字电路的每条时序路径，获取该时序路径中每个模块的状态信息，该状态信息包括数字电路实际运行时的输入电压转换时间、输出负载以及信号概率；基于每个...
孙永生湛灿辉付一伟
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自适应电压调整方法、芯片以及系统
本发明实施例提供一种自适应电压调整方法、芯片以及系统，该方法包括：在第一电压调整时间，获取芯片中与老化效应相关的状态参数，所述第一电压调整时间为所述芯片设置的多个电压调整时间中的一个；根据所述状态参数，确定与所述第一电压...
郭建平王新入付一伟
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电路老化仿真方法及装置
本发明实施例提供一种电路老化仿真方法及装置。本发明的电路老化仿真方法，其特征在于，包括：获取集成电路中各门电路的SP；根据所述各门电路的SP，分别从预设的各SP的老化库中确定所述各门电路的时延；其中，每个SP的老化库分别...
孙永生湛灿辉付一伟
数字电路老化仿真方法及装置
本申请公开了一种数字电路老化仿真方法及装置，属于电子技术领域。该方法包括：对于数字电路的每条时序路径，获取该时序路径中每个模块的状态信息，该状态信息包括数字电路实际运行时的输入电压转换时间、输出负载以及信号概率；基于每个...
孙永生湛灿辉付一伟
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确定电路老化性能的方法和装置
本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置，该方法包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定该电路的...
孙永生郭建平付一伟
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确定电路老化性能的方法和装置
本发明实施例提供一种确定电路老化性能的方法和装置，该方法包括：确定电路中每个鳍式场效晶体管的自发热温度；根据每个鳍式场效晶体管的自发热温度，确定每个鳍式场效晶体管的仿真温度；根据每个鳍式场效晶体管的仿真温度，确定该电路的...
孙永生郭建平付一伟
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电路老化仿真方法及装置
本发明实施例提供一种电路老化仿真方法及装置。本发明的电路老化仿真方法，其特征在于，包括：获取集成电路中各门电路的SP；根据所述各门电路的SP，分别从预设的各SP的老化库中确定所述各门电路的时延；其中，每个SP的老化库分别...
孙永生湛灿辉付一伟
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