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文献类型

  • 2篇会议论文
  • 1篇期刊文章

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 2篇电路
  • 2篇自动测试仪
  • 2篇交流参数
  • 2篇TDC-GP...
  • 2篇参数测量
  • 1篇电路结构
  • 1篇电路结构设计
  • 1篇软错误
  • 1篇时钟
  • 1篇阈值
  • 1篇系统设计
  • 1篇集成电路
  • 1篇比较器
  • 1篇SEU
  • 1篇FPGA
  • 1篇触发器

机构

  • 3篇电子科技大学

作者

  • 3篇于东英
  • 3篇陈梦远
  • 3篇聂永峰
  • 2篇张斌
  • 1篇甘智勇
  • 1篇曾泽嵘

传媒

  • 1篇现代电子技术
  • 1篇计算机学会第...
  • 1篇第十五届计算...

年份

  • 3篇2011
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
基于TDC-GP2的信号交流参数测量系统设计
提出一种在集成电路测试仪中信号交流参数测量系统的软硬件设计方案,通过采用高速比较器和高分辨率时间测量芯片,该系统能够测量集成电路管脚信号的频率、脉宽、延迟时间,上升/下降时间.通过测量上升时间验证了该系统软硬件设计的正确...
聂永峰于东英陈梦远张斌
关键词:集成电路自动测试仪系统设计交流参数
文献传递
基于TDC-GP2的信号交流参数测量系统设计
提出一种在集成电路测试仪中信号交流参数测量系统的软硬件设计方案,通过采用高速比较器和高分辨率时间测量芯片,该系统能够测量集成电路管脚信号的频率、脉宽、延迟时间,上升/下降时间。通过测量上升时间验证了该系统软硬件设计的正确...
聂永峰于东英陈梦远张斌
关键词:自动测试仪交流参数比较器阈值
文献传递
一种改进的对抗软错误电路结构设计被引量:2
2011年
给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转(SEU)引起的数据错误。简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误。采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响。改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率。
聂永峰于东英曾泽嵘甘智勇陈梦远
关键词:SEUFPGA触发器
共1页<1>
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